芯片验证如何分解测试用例
时间: 2023-10-27 14:22:58 浏览: 43
芯片验证的测试用例分解可以通过测试覆盖率和功能测试指标来进行。测试覆盖率是一种测试技术指标,用于评估测试用例是否能够完全覆盖应用程序代码中的各种可能情况,以及在运行这些测试用例时执行了多少代码。它可以帮助进行回归测试、测试用例优先级划分、测试套件扩展和测试套件颗粒化。其中,语句覆盖是一种常用的测试覆盖技术。
功能测试指标主要关注需求范围,它可以用来评估测试用例是否涵盖了系统的各个功能需求。然而,功能测试指标的缺点是仅仅计数通过的测试用例并不能说明这些测试的质量。有些测试可能能够通过,但在某些非正常的情况下,程序可能会触发一些BUG。因此,在进行芯片验证的测试用例分解时,除了关注功能测试指标,还应结合测试覆盖率来确保测试用例的全面性和有效性。<span class="em">1</span><span class="em">2</span><span class="em">3</span>
#### 引用[.reference_title]
- *1* *2* *3* [如何提高测试用例覆盖率?阿里测试工程师是这样说的](https://blog.csdn.net/wqda125/article/details/126631152)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_2"}}] [.reference_item style="max-width: 100%"]
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