以sm8550为例，芯片DDR的SLT测试用例

好的，以下是一个以sm8550为例的芯片DDR的SLT测试用例：

#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>
#include <time.h>

#define DDR_BASE_ADDR 0x80000000
#define DDR_SIZE 0x1000000 // 16MB

// 生成一个随机的整数数组
void generate_random_data(int *data, int size) {
    srand(time(NULL));

    for (int i = 0; i < size; i++) {
        data[i] = rand();
    }
}

// 将数据写入到DDR
void write_data_to_ddr(int *data, int size) {
    int *ddr_ptr = (int *)DDR_BASE_ADDR;

    for (int i = 0; i < size; i++) {
        *ddr_ptr = data[i];
        ddr_ptr++;
    }
}

// 从DDR中读取数据，并验证数据是否正确
void read_data_from_ddr(int *data, int size) {
    int *ddr_ptr = (int *)DDR_BASE_ADDR;

    for (int i = 0; i < size; i++) {
        if (*ddr_ptr != data[i]) {
            printf("Error: mismatch at index %d\n", i);
            return;
        }

        ddr_ptr++;
    }

    printf("All data is correct!\n");
}

// 延迟测试向量
void delay_test_vector() {
    int data[DDR_SIZE / sizeof(int)];

    // 生成随机数据
    generate_random_data(data, DDR_SIZE / sizeof(int));

    // 设置写和读的延迟
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 2" :: "r" (0x10));
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 3" :: "r" (0x10));

    // 将数据写入到DDR
    write_data_to_ddr(data, DDR_SIZE / sizeof(int));

    // 从DDR中读取数据，并验证数据是否正确
    read_data_from_ddr(data, DDR_SIZE / sizeof(int));
}

// 时序测试向量
void timing_test_vector() {
    int data[DDR_SIZE / sizeof(int)];

    // 生成随机数据
    generate_random_data(data, DDR_SIZE / sizeof(int));

    // 调整时序参数
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 0" :: "r" (0x100));
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 1" :: "r" (0x100));
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 4" :: "r" (0x100));
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 5" :: "r" (0x100));
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 6" :: "r" (0x100));
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 7" :: "r" (0x100));
    asm("mcr p15, 0, %0, c9, c0, 8" :: "r" (0x100));

    // 将数据写入到DDR
    write_data_to_ddr(data, DDR_SIZE / sizeof(int));

    // 从DDR中读取数据，并验证数据是否正确
    read_data_from_ddr(data, DDR_SIZE / sizeof(int));
}

// 全局测试向量
void global_test_vector() {
    int data[DDR_SIZE / sizeof(int)];

    // 生成随机数据
    generate_random_data(data, DDR_SIZE / sizeof(int));

    // 将数据写入到DDR
    write_data_to_ddr(data, DDR_SIZE / sizeof(int));

    // 从DDR中读取数据，并验证数据是否正确
    read_data_from_ddr(data, DDR_SIZE / sizeof(int));
}

int main() {
    // 延迟测试向量
    delay_test_vector();

    // 时序测试向量
    timing_test_vector();

    // 全局测试向量
    global_test_vector();

    return 0;
}

在这个示例中，我们使用 C 语言编写了一个简单的芯片DDR的SLT测试用例。该测试用例包含了三个测试向量：

1. 延迟测试向量：通过增加写和读的延迟来测试DDR的稳定性和性能。

2. 时序测试向量：通过调整DDR时序参数来测试DDR的稳定性和性能。

3. 全局测试向量：通过同时访问DDR中的所有地址来测试DDR的带宽和性能。

在 `main` 函数中，我们依次执行了这三个测试向量，并输出测试结果。需要注意的是，这个示例是一个非常简单的芯片DDR的SLT测试用例。在实际的测试中，可能需要更加复杂和全面的测试向量来验证系统的稳定性和性能。此外，还需要根据具体的DDR控制器和接口特性以及测试目的和要求来定制测试向量。