数模转换芯片的ATE

### 数模转换芯片ATE自动测试设备

#### 测试系统的分类与组成
集成电路自动测试系统为软硬一体化的设备，亦称为ATE设备。根据测试芯片类型的差异，这类系统可以划分为数字电路测试系统、模拟电路测试系统、存储器测试系统以及混合信号电路测试系统四大类[^1]。

对于数模转换(DAC)芯片而言，其属于混合信号电路的一部分，在进行DAC测试时，输入输出量程的处理相对简单。无论采用哪种测试方法，数字信号发生器只需将其输出码型与DAC的输入编码范围一一对应即可。此外，用于采集数据的波形数字化仪(WFD)的量程应确保略大于DAC的设计输出范围，以便能够准确捕捉到所有的输出信号[^3]。

#### 测试流程概述
分选机会将待测芯片逐个自动传送至测试位置，使被测芯片的引脚通过测试位置上的基座、专用连接线与测试机的功能模块相接。测试机会向芯片施加输入信号并收集输出信号，以此判断芯片功能和性能在各种工作条件下的表现是否满足设计标准的要求。最终的结果会经由通信接口传输给分选机，后者依据这些信息对标记、分拣、回收或封装完成后的芯片做进一步处理[^2]。

def dac_test(dac_input_range, wfd_output_range):
    """
    Simulate the DAC test process.
    
    :param dac_input_range: The input range of the DAC to be tested.
    :param wfd_output_range: The output range that WFD should cover.
    :return: Test result indicating whether all outputs are within expected ranges.
    """
    if not (wfd_output_range >= max(dac_input_range)):
        raise ValueError("WFD's output range must exceed DAC's design output.")
        
    # Simulation code here...
    return "All tests passed."