jesd22-b108b

JESD22-B108B是JEDEC组织发布的关于半导体器件的应力测试方法的标准规范。该规范用于评估半导体器件在应力状态下的可靠性和耐久性。

该规范主要包括以下内容：

1、测试方法：对半导体器件进行加速应力测试，包括持续温度应力、温度循环应力和温度/湿度应力等测试方法。

2、实验条件：定义了测试设备和实验条件，包括测试温度、相对湿度、电压、电流等参数。

3、测量参数：记录和分析测试过程中产生的数据，包括电性能、外观、微观结构等。

通过JESD22-B108B的应力测试，可以有效地评估半导体器件在复杂的应力状态下的可靠性和耐久性，为设计和生产高性能半导体器件提供重要参考依据，可以降低成本和提高产品质量。