IC验证里面binsof和intersect在覆盖率中怎么应用
时间: 2023-06-26 16:06:52 浏览: 453
在 IC 验证中,binsof 和 intersect 是非常常用的覆盖率分析工具。
binsof 是将目标信号的值域划分为若干个离散的区间,然后统计每个区间内被覆盖的次数。这个工具可以帮助验证工程师了解目标信号的取值范围和分布情况,以及在测试中是否覆盖了各个区间。通过对不同区间的覆盖情况进行分析,可以找出测试中存在的盲区并优化测试用例。
而 intersect 则是将多个目标信号的取值组合起来,形成一个复合信号,然后统计该复合信号被覆盖的次数。这个工具可以帮助验证工程师了解不同信号之间的交互情况,以及在测试中是否覆盖了不同信号之间的所有可能组合。通过对不同组合的覆盖情况进行分析,可以找出测试用例中存在的不合理组合并优化测试用例。
总的来说,binsof 和 intersect 工具可以帮助验证工程师在测试时更全面地覆盖目标信号,提高测试效率和精度。
相关问题
IC验证里面binsof和intersect在覆盖率中的应用例子
在 IC 验证中,binsof 和 intersect 都是常用的覆盖率工具,它们的应用例子如下:
1. binsof 的应用例子
binsof 用于将信号值分组,并计算每个组的覆盖率。例如,有一个 8 位的信号 X,它的取值范围为 0~255。我们可以将它分为 4 个组,每个组包含 64 个取值,如下所示:
- binsof(X, {0-63, 64-127, 128-191, 192-255})
然后,我们可以使用 covergroup 来统计每个组的覆盖率,例如:
```
covergroup cg @(posedge clk);
option.per_instance = 1;
X_bin : coverpoint binsof(X, {0-63, 64-127, 128-191, 192-255})
{
bins bin0 = {0};
bins bin1 = {1};
bins bin2 = {2};
bins bin3 = {3};
}
endgroup
```
2. intersect 的应用例子
intersect 用于计算两个或多个信号的交集,即同时满足这些信号的取值。例如,有两个 8 位的信号 X 和 Y,它们的取值范围都为 0~255。我们想要统计同时满足 X 和 Y 的取值的覆盖率,可以使用 intersect,如下所示:
- intersect({X, Y})
然后,我们可以使用 covergroup 来统计交集的覆盖率,例如:
```
covergroup cg @(posedge clk);
option.per_instance = 1;
X_Y_intersect : coverpoint intersect({X, Y})
{
bins intersect_bin = {default};
}
endgroup
```
IC验证里面ignore_bins、binsof和intersect在覆盖率中的应用例子
在 IC 验证中,覆盖率是评估验证环节完成度的关键指标之一。以下是 ignore_bins、binsof 和 intersect 在覆盖率中的应用例子:
1. ignore_bins:在覆盖率分析中,有时候我们并不关心某些特定的信号值,因此可以使用 ignore_bins 忽略这些值。比如,在验证时,我们可能只关心某个计数器是否超过了某个阈值,而不关心它在超过阈值之前的具体值,这时就可以使用 ignore_bins 来忽略这些不关心的值。
2. binsof:在覆盖率分析中,我们可能需要根据某个信号的取值来统计分析覆盖率。这时就可以使用 binsof 来指定该信号的取值范围,并统计覆盖率。比如,在验证时,我们可能需要统计某个寄存器的所有写入操作,这时就可以使用 binsof 指定寄存器的地址范围,并统计对该地址范围内的寄存器的写入操作的覆盖率。
3. intersect:在覆盖率分析中,我们可能需要同时统计多个信号的取值情况,这时就可以使用 intersect 来计算这些信号的交集,并统计覆盖率。比如,在验证时,我们可能需要统计某个寄存器的读写操作,但是我们只关心某个特定的状态下的读写操作,这时就可以使用 intersect 来计算该状态下寄存器读写操作的覆盖率。