SOC内部DDR的ｄｉａｇ ｃａｓｅ有哪些？

SOC内部DDR的diag case通常包括以下几种：

1. 芯片读写测试（read/write test）：这是最基本的DDR测试，主要测试芯片读写时的数据传输和存储功能。测试时会向DDR中写入一些数据，然后再从DDR中读取这些数据，以检测数据传输和存储的正确性。

2. DDR时序测试（timing test）：这种测试主要是用来测试DDR时序的准确性和稳定性，包括时钟频率、时序延迟、时序窗口等参数。测试时会通过改变时序参数的设置，来测试DDR的时序是否符合要求。

3. DDR电气测试（electrical test）：这种测试主要是用来测试DDR的电气性能，包括电压、功耗等参数。测试时会通过改变电气参数的设置，来测试DDR的电气性能是否符合要求。

4. DDR噪声测试（noise test）：这种测试主要是用来测试DDR的噪声性能，包括信号干扰、交叉耦合等问题。测试时会通过改变测试信号的设置，来测试DDR的噪声性能是否符合要求。

5. DDR高速测试（high-speed test）：这种测试主要是用来测试DDR的高速性能，包括数据传输速率、时序抖动等参数。测试时会通过改变测试信号的设置，来测试DDR的高速性能是否符合要求。

需要注意的是，在进行SOC内部DDR的diag case测试时，需要根据具体的芯片型号、DDR规格和测试要求进行选择和设计，以确保测试的准确性和有效性。同时，也需要对测试结果进行分析和评估，以确定测试的可靠性和覆盖率。