case 抽取后能复用到SLT或者diag 测试中吗？

是的，case 抽取后的测试用例可以复用到 SLT（生产测试）或者 diag（诊断测试）中。这是因为在芯片验证中，case 抽取的测试用例通常是基于设计规格书或测试计划中定义的测试需求和测试目标来抽取的。这些测试需求和测试目标与生产测试和诊断测试中的测试需求和测试目标是相似的，因此抽取的测试用例可以复用到这些测试中。

在生产测试中，需要对芯片进行全面的测试，验证芯片的性能和可靠性等指标是否符合设计规格书中的要求。为了实现这个目标，生产测试通常包括诊断测试、SLT 测试和功能测试等多种测试类型。抽取的测试用例可以用于设计和实现这些测试，以保证测试的全面性和有效性。

在诊断测试中，需要对芯片进行故障诊断，以确定芯片中存在的故障，并对故障进行定位和修复。抽取的测试用例可以用于设计和实现这些测试，以帮助诊断人员更快速地识别和解决芯片中的故障。

因此，case 抽取后的测试用例可以在芯片验证、生产测试和诊断测试中进行复用，提高测试的效率和测试用例的重复利用率。