NI PXI新SMU：高效半导体测试利器

"基于PXI的半导体测试的新数字化SMU功能是一项重要的技术创新，由National Instruments (NI)公司推出。这种新功能主要体现在其NIPXIe-6556高速数字I/O模块和NIPXIe-4140/41 SMU模块上。这些模块专为提高半导体测试效率和准确性而设计。 NIPXIe-6556模块具有24通道，集成了管脚参数测量单元（PPMU）和高速数字I/O功能，可在同一引脚上同时进行数字测试和直流参数测量。通过无缝切换到独立的PMU，它能够在1%的精度下进行四象限测量，同时保持与NI其他高速数字设备模块的高度兼容性。其内置的定时自校算法和硬件定时测量功能，显著减少了测试时间和环路延迟的管理。 NIPXIe-4140/41 SMU模块则是单个PXI插槽提供了4个SMU通道，或者在每个机箱内支持高达68个通道，特别适用于表征高引脚数器件。这些模块每秒可采集60万个样本，确保了测量的实时性和器件瞬态行为的捕捉。其中，NIPXIe-4141的电流测量精度达到10pA，非常适合精确测量无功电流。 值得一提的是，NIPXIe-4141采用的SourceAdapt技术，显著提高了SMU的反应速度和瞬态响应时间，特别是在处理不同负载时，能够实现更高的稳定性和最短的响应时间。这使得测试过程更为高效，对于提升半导体测试的性能和可靠性至关重要。 这些基于PXI的新型数字化SMU功能，不仅提升了测试的灵活性、精度和速度，还降低了仪器的封装尺寸，对于现代半导体行业的研发和生产测试有着重大的推动作用。通过下载提供的技术资料，用户可以深入了解这些创新模块如何应用到实际测试环境中，从而优化测试流程并提高测试质量。"