VLSI测试方法与SoC可测性设计详解

《VLSI测试方法学和可测性设计》是一本专门针对超大规模集成电路（VLSI）领域的教材，由雷绍充、邵志标和梁峰共同撰写，面向高等教育电子信息类学生以及相关专业人士。该书详细探讨了VLSI测试的各个方面，包括： 1. **测试方法学基础**：阐述了电路测试和分析的基本概念及理论，强调了数字电路描述和模拟的重要性，使读者理解如何对组合电路和时序电路进行有效的测试。 2. **专用可测性设计**：书中讲解了如何为特定应用设计可测性，这涉及到扫描和边界扫描技术，确保集成电路内部结构的完整性和一致性。 3. **IDDQ测试**：介绍了电流注入差分二极管测试（IDDQ）方法，这是一种常用的电路性能验证手段，尤其适用于数字电路的测试。 4. **随机和伪随机测试**：讲述了如何利用随机和伪随机信号来评估电路的可靠性，这对于发现潜在故障至关重要。 5. **测试生成电路结构**：讨论了不同测试生成电路结构的关系，如与M序列相关的测试方法，它们在实际测试过程中扮演关键角色。 6. **内建自测试（In-Built Self-Test, IBST）**：本书深入解析了内建自测试技术，让读者了解如何在芯片设计阶段就考虑到测试功能，提高整体的可测性。 7. **数据压缩和内存可测性**：涵盖了数据压缩结构在VLSI设计中的应用，以及如何通过压缩技术优化测试效率。 8. **SoC可测性设计**：针对系统级芯片（System-on-Chip, SOC）的特殊性，书中介绍了相应的可测性设计策略，确保复杂系统的可靠运行。 这本书不仅是工程师的实用参考书，还适合于教学使用，因为它为电路设计、制造、测试和应用领域的专业交流提供了一个平台。对于想深入了解VLSI测试的学生和从业者来说，这本书是不可或缺的学习资料。同时，版权声明强调了未经许可不得复制或抄袭内容的法律要求，保护了作者的知识产权。