DFT Compiler与TetraMax教程详解：提升集成电路测试效率

本资源是一份关于DFT Compiler和TetraMax的教程，由黄信融教授讲解，适合对设计可测试性(DFT)感兴趣的工程师。课程分为两天，第一天专注于DFT Compiler，包括基本概念、编译器的工作流程、基础和高级DFT技术、扫描路径插入、内存封装与自动修复以及其他相关技能。DFT Compiler部分深入讨论了如何通过结构化或非结构化方法增强集成电路的可测试性，强调了设计中的额外努力以提高测试效率。 在第一天的培训中，参与者将学习如何通过DFT Compiler实现设计的可测试性，例如如何在电路中插入测试逻辑，以及如何利用Memory Wrapper功能进行自动化修复。此外，还会介绍如何利用Synopsys On-Line Documentation进行在线查阅和测试自动化的方法。 第二天的焦点转向了TetraMAX，这是一个高级的DFT工具。TetraMAX概述了设计和测试流程，特别提到了用于设计规则检查(DRC)和自动测试 Pattern Generation (ATPG)的STIL。课程详细讲解了TetraMAX支持的不同故障类别和故障列表，以及如何通过功能模式模拟来调试问题。此外，记忆模型的建模技术和解决实际问题时需要牢记的关键点也得到了深入探讨。 TetraMAX强调了设计之初就考虑到测试的重要性，即在芯片设计过程中投入额外精力，通过合理地插入或修改逻辑，并添加测试引脚，使得测试更为高效。无论是结构化的还是非结构化的DFT策略，都是提升产品整体测试性能的关键。 整个教程不仅提供了理论知识，还通过实例演示和实践经验分享，帮助工程师们深化理解DFT Compiler和TetraMAX在实际项目中的应用，从而提升设计过程中的可测试性和产品质量。最后，教程还提到了如何获取Synopsys官方文档以辅助测试自动化工作。这是一份非常实用且全面的DFT与测试工具培训资料。