嵌入式系统内置算术自测试技术
"《Arithmetic Built-in Self-Test for Embedded Systems》是一本关于嵌入式系统内置算术自测试的经典著作,由Janusz Rajski(Mentor Graphics Corporation)和Jerzy Tyszer(Poznan University of Technology)共同撰写。这本书在1997年由Prentice Hall PTR出版,具有ISBN 0137564384。书中可能包含OCR识别错误,但仍然是学习电子电路测试和LSI系统自测的重要资源。" 在本书中,作者深入探讨了内置自测试(Built-in Self-Test, BIST)的相关知识,主要分为以下几个方面: 1. **引入**: 首先,作者介绍了BIST的基本概念,它是如何在嵌入式系统中实现对硬件功能的自动测试,以确保其可靠性和质量。 2. **可测试性设计**: 可测试性设计是BIST的核心,包括了控制性和可观察性,即设计应允许外部控制内部状态并能获取有效的测试结果。书中提到了两种方法:即兴技术(Ad Hoc Techniques)和扫描设计(Scan Designs)。前者适用于简单或临时性的测试需求,而后者更常见于现代集成电路,通过扫描链路实现测试数据的输入和输出。 3. **边界扫描架构**: 边界扫描是一种用于测试数字IC接口的国际标准(JTAG),它允许在不拆卸设备的情况下进行板级测试。 4. **测试向量生成**: 书中详细讨论了如何生成有效的测试序列,包括全面测试(Exhaustive Testing)、准全面测试(Pseudo-Exhaustive Testing)、伪随机测试(Pseudo-Random Testing)、加权模式(Weighted Patterns)、线性反馈移位寄存器的重新播种(Reseeding of LFSRs)以及衍射(Diffraction)等方法,这些都是为了找到能够覆盖所有可能故障的测试模式。 5. **模式映射与扫描编码模式**: 这些技术帮助优化测试序列,减少测试时间,同时确保测试覆盖率。 6. **测试响应压缩**: 测试响应压缩旨在减少测试结果的数据量,提高测试效率。书中介绍了压缩方案的目标、需求以及误差模型和多重映射(Aliasing)的概念。 7. **BIST策略**: 最后,作者讨论了针对随机逻辑(Random Logic)、乘法器(Multipliers)和存储器(Memory)的BIST策略,这些都是嵌入式系统中常见的组件,它们的测试对于系统整体的可靠性至关重要。 这本书涵盖了BIST技术的多个关键方面,适合对电子电路测试和LSI系统自测试感兴趣的读者,无论是初学者还是专业人士,都能从中获得宝贵的知识和洞察。
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