STD3NK60Z-1-VB:高性能N沟道TO251 MOSFET规格详解

0 下载量 13 浏览量 更新于2024-08-03 收藏 458KB PDF 举报
"STD3NK60Z-1-VB是一种N沟道MOSFET,采用TO251封装,适用于需要低门极电荷、高耐压和良好动态dv/dt性能的应用。该器件符合RoHS指令2002/95/EC的要求,并具有全面的电容和雪崩电压及电流特性。" 正文: STD3NK60Z-1-VB是一款高性能的N沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),其主要特点在于它的低门极电荷(Qg),这使得它在驱动电路设计上具有简单性。低Qg意味着开关速度快,功耗降低,因此适用于需要快速开关响应的场合,如电源转换、电机控制或高频开关应用。 这款MOSFET具有出色的栅极、雪崩和动态dv/dt鲁棒性,增强了其在恶劣工作条件下的稳定性。这意味着它能够承受较高的电压波动和电流变化速率,减少了器件损坏的风险。此外,产品完全经过了电容和雪崩电压及电流的特性测试,确保了其在各种工作条件下的可靠性。 在电气参数方面,STD3NK60Z-1-VB的最大漏源电压(VDS)为650V,当栅源电压VGS为10V时,其漏源导通电阻(RDS(on))仅为5欧姆,表明其在导通状态下的内阻非常低,适合用于需要低电阻路径的功率传输。门极电荷Qg的最大值为11nC,包括栅极电荷Qgs(2.3nC)和栅漏电荷Qgd(5.2nC),这些数值反映了其开关效率。 该器件的连续漏极电流在25°C时为3.2A,100°C时降为1.28A,脉冲漏极电流IDM可达8A。其单脉冲雪崩能量EAS为165mJ,重复雪崩电流IAR限制为2A,重复雪崩能量EAR为6mJ,这确保了在进行雪崩操作时的安全性。最大功率耗散随温度线性衰减,每升高1°C,功率耗散减少0.48W,最大功率耗散值取决于环境温度。 总结来说,STD3NK60Z-1-VB是一款高性能、低门极电荷的N沟道MOSFET,适合于对开关速度、效率和耐受能力有较高要求的电源管理及功率转换系统。其TO251封装提供了良好的散热能力和安装便捷性,且符合RoHS环保标准,是现代电子设计中的理想选择。