集成电路自动化测试与可测性设计关键技术研究

"集成电路自动测试方法及可测性设计研究主要探讨了在集成电路技术快速发展背景下，如何有效地进行自动化测试和可测性设计。随着集成电路规模的不断扩大，测试问题变得至关重要，尤其是在VLSI（超大规模集成电路）和SO（系统级芯片）设计中，测试费用高昂且复杂性增加。论文指出，核复用在SOIC设计中的应用带来了核测试复用问题，需要对嵌入式核进行可测性设计，并提出了在设计初期就考虑测试问题的新思路。主要内容包括Freescale微处理器的测试、数字集成电路测试理论、嵌入式存储器的测试方法以及电路测试和分析的基本概念和理论。" 集成电路自动测试方法是解决集成电路复杂性和尺寸缩小所带来的挑战的关键。随着集成电路技术的不断进步，单个芯片上可以集成的晶体管数量急剧增加，从最初的ssI发展到现在的VLSI和SOIC。这使得测试环节的成本和难度大幅提升，甚至可能占据整个芯片制造成本的一半以上。因此，集成电路的自动化测试方法对于缩短产品上市时间、降低开发成本具有重大意义。 在SOIC设计中，核复用是降低成本和加快设计进程的有效手段，但它也带来了测试上的复杂性。由于嵌入式核的可测性设计缺乏统一标准，设计者需要在集成过程中确保每个核的可测性，这通常会增加约三分之一的设计成本。为了解决这个问题，文章提出了在设计阶段就考虑测试策略的可测性设计方法，旨在减少后期测试的复杂性和成本。 论文详细介绍了数字集成电路的测试理论和方法，包括针对Freescale微处理器的测试实践，这对于理解如何针对不同类型的集成电路进行有效的测试至关重要。此外，它还涵盖了嵌入式存储器的测试，这是集成电路中的一个重要组成部分，因为存储器的正确性直接影响到整个系统的性能。 最后，论文讨论了电路测试和分析的基本概念，强调了验证、模拟、仿真和实际测试等多个步骤在测试过程中的重要性。这一部分提醒我们，测试不应仅仅被视为设计流程的后期步骤，而应该在整个设计周期中都被充分考虑。 这篇硕士学位论文深入探讨了集成电路自动测试的最新进展和可测性设计的关键问题，为电子和通信工程领域的研究者和从业者提供了重要的理论基础和实践指导。