VLSI测试方法与可测性设计——D算法在故障检测中的应用

"选择敏化路径是VLSI测试方法中的一个重要概念，用于故障检测和测试生成。在这个过程中，目标是找到一条能最大化故障暴露的信号传递路径，即敏化路径。D算法是一种常见的测试生成方法，用于检测电路中的故障。在实施D算法时，通常包括以下步骤： 1. 初始化：首先，对电路中的所有节点赋予初始值，如例3.7所示，所有节点被赋值为x。 2. 选择敏化路径：选取一条能够敏化目标故障的路径。这条路径应该使得故障状态能够通过电路的逻辑操作得以传播。 3. 沿路径传播PDCF（Propagated Conflict Detection Function）：在选定的敏化路径上，按照逻辑门的顺序进行相交运算。PDCF是用来检测路径上是否出现冲突的函数，它随着信号沿着路径传播而更新。 4. 驱赶过程：当PDCF传播到电路的原始输出（d）时，会进行驱赶操作。驱赶过程中，电路中的节点值会被更新，同时确认输入值。如果驱赶过程中d或d'（d的反值）出现在原始输入中，表示驱赶成功，故障被敏化。 5. 一致性检查：最后，进行一致性检查以验证测试图形是否有效。如果通过一致性检查，则测试图形被确认，否则返回步骤2重新选择路径。 D算法的应用旨在确保VLSI电路的测试覆盖率，以便在实际生产中有效地检测出潜在的制造缺陷或设计错误。书中提到的内容涵盖了VLSI测试方法学和可测性设计的广泛主题，包括组合电路和时序电路的测试生成、扫描和边界扫描理论、IDDQ测试、随机和伪随机测试以及内建自测试（BIST）原理等。这些内容对于集成电路设计、制造、测试和应用的专业人士，以及高等院校的高年级学生和研究生来说，都是深入学习和实践的重要参考资料。"