USB 2.0驱动的边界扫描控制器：提升电路板测试效率

本文主要探讨的是"基于USB 2.0的边界扫描控制器设计"，针对现代电子工业中的挑战，特别是超大规模集成电路（VLSI）、表面安装器件（SMD）和多层印制电路板（MPCB）技术的发展，这些技术导致电路板上电路节点的物理访问性减弱，传统的测试方法难以应对日益复杂的系统。边界扫描技术作为一种有效的解决方案，利用VLSI芯片的内置边界扫描结构，可以在板级测试中提高故障诊断的准确性。 JTAG（联合测试行动组）提出的边界扫描技术，其核心原理是通过在芯片外部与内部逻辑电路间添加由移位寄存器构成的边界扫描单元，实现了对芯片管脚状态的串行控制和读取，从而赋予了管脚可操控性和可观测性。这种技术不仅能独立测试单个芯片，还能进行板级的互连测试，极大地增强了系统的可测试性。 本文设计了一个基于USB 2.0的边界扫描测试主控系统，这个设计结合了USB接口的便捷性和高效性，旨在简化系统结构，降低成本，并提升便携性。USB 2.0的高速传输能力使得数据传输更加迅速，对于实时或大规模的测试场景尤其适用。系统设计包括对边界扫描测试受控系统工作机制的深入分析，以及具体实现电路的设计与构建。 设计的关键在于利用USB总线的优势，提供了一种灵活且易于集成的解决方案，这对于应对现代电子产品复杂度的增长，特别是在嵌入式系统和物联网设备中的应用具有重要意义。通过这种设计，电子制造商能够更有效地进行故障定位和预防，从而提高产品质量和生产效率。 本文的研究不仅填补了现有技术在物理访问性下降情况下的测试空白，而且展示了如何通过创新硬件设计，如基于USB 2.0的边界扫描控制器，推动电子测试技术的进步，适应未来电子工业的发展需求。