飞升曲线测量：自聚焦阵列艾里光束实验实现与电阻炉温度实例

飞升曲线的测量是控制技术领域中的一个重要概念，特别是在自聚焦阵列艾里光束的实验实现中，它用于评估系统的动态响应特性。飞升曲线是当系统从稳定状态突然受到阶跃输入信号时，输出信号随时间的变化率图形。由于实际测量中存在动态范围限制和非线性效应，阶跃信号的幅度需选择得当，既能克服初始非线性，又能减少干扰对测量结果的影响。 测量飞升曲线的过程通常包括以下步骤：首先，在系统稳定状态下获取输出，然后施加一个幅度适中的阶跃输入信号，观察输出信号的变化。这种变化部分即为飞升曲线，它反映了系统响应速度和增益随时间的变化情况。例如，通过对比图9.10和图9.11中的飞升曲线，我们可以辨识出图9.10代表一阶对象的响应，而图9.11则包含纯滞后，其传递函数形式为W(s) = Ke^(-τsT/s+1)，其中K是放大系数，τ是滞后时间常数。 飞升曲线的测量不仅在理论上具有价值，而且在诸如电阻炉炉温控制这类实际工程中也有广泛应用。通过比较测量得到的飞升曲线与理论模型的预测，工程师可以验证系统的性能，并根据需要进行调整或优化。计算机控制技术，如本书《计算机控制技术》所涵盖的内容，不仅涵盖了飞升曲线测量的基础理论，还涉及信号处理、系统分析、设计方法和实际应用案例等多方面，旨在提供全面的教育和实践指导。 该教材由姜学军编著，适合于计算机、电子、自动控制及自动化专业的本科生学习，也适合科研技术人员参考。书中强调理论与实践相结合，关注解决实际问题，体现了工程实际应用性强的特点。此外，还提供了版权信息、防伪措施以及购买和识别方式，确保读者能够获得正版教材。 飞升曲线测量是计算机控制系统中评估动态性能的关键技术手段，其测量方法、典型特征以及在工程中的应用都在《计算机控制技术》中得到了深入浅出的讲解。通过学习这部分内容，读者可以更好地理解和掌握系统设计与分析的技巧，提升在控制领域的实践能力。