存储测试低功耗关键技术：微型脉冲供电光电倒置开关

微型脉冲供电式光电倒置开关是一种创新设计，专为满足存储测试系统对低功耗的需求而研发。这种新型开关的核心特点是低电压驱动、低功率损耗、紧凑的体积以及内置延时功能，使得它能够实现无接触操作，只需通过倒置动作即可完成开关的单向转换，从而节省能源并提高测试系统的效率。作为电源控制技术的关键组成部分，它对于实现存储测试系统的微功耗至关重要。 在设计上，开关由光电控制模块和CPLD控制模块构成。光电控制模块负责红外光的发射和接收，利用红外发光二极管作为光源，光敏三极管作为传感器，通过光电耦合电路和锥体-T型结构的光发射-接收结构来实现光电转换。当开关倒置时，小钢球遮挡光线，导致光敏三极管输出低电平；反之，开关正置时，光路畅通，光电三极管输出与驱动红外发光二极管脉冲电压信号同步的脉冲信号。 CPLD控制模块则负责脉冲电压信号的生成和存储测试系统的状态控制。它利用复杂可编程逻辑器件(CPLD)技术，这是一种基于早期PAL和GAL技术的高密度集成芯片，能够执行复杂的逻辑运算和定时控制。通过CPLD，开关能够精确地控制红外发光二极管的脉冲驱动，并产生延时上电控制信号，以优化系统的工作周期和功耗。 这种设计已经在实际应用中得到了验证，例如在电子测压器中，特别是在国家靶场的火炮膛压测试中，证明了微型脉冲供电式光电倒置开关的稳定性和可靠性。通过集成CPLD的智能化控制，开关能够在无需人工干预的情况下，高效且节能地完成测试任务。 微型脉冲供电式光电倒置开关在存储测试系统中扮演着关键角色，其高效能、低功耗的特性使其成为现代测试技术的理想选择。随着技术的进步和应用拓展，这种开关有望在更多领域得到应用，推动低功耗电子设备的发展。