VLSI测试方法与可测性设计详解：超大规模集成电路的关键技术

《VLSI测试方法学和可测性设计》是由雷绍充、邵志标、梁峰三位作者共同编著的一本高等学校电子信息类教材，由中国电子工业出版社于2005年出版。该书针对超大规模集成电路（VLSI）领域的测试技术和设计，提供了深入且全面的学习资料。VLSI是Very Large Scale Integration（大规模集成电路）的缩写，它代表了现代电子技术中的核心技术之一。 书中涵盖了VLSI测试方法的各个方面，包括但不限于： 1. 电路测试的基础概念和理论：介绍了测试在VLSI设计过程中的重要性，以及如何设计有效的测试方案。 2. 数字电路的描述和模拟方法：这部分内容帮助读者理解如何通过数学模型和仿真来评估电路性能。 3. 组合电路和时序电路的测试生成方法：讲解了如何针对不同类型的电路结构设计针对性的测试策略，如测试信号的生成和分析。 4. 专用可测性设计：探讨了如何在芯片设计阶段就考虑测试需求，提高产品的可测试性和可靠性。 5. 扫描和边界扫描理论：这是实现芯片级测试的关键技术，涉及测试数据如何通过特定路径在芯片内部传递。 6. IDDQ测试、随机和伪随机测试：介绍了不同类型的故障检测方法，以及它们在实际测试中的应用。 7. 测试生成电路结构和M序列测试：探讨了利用特定序列进行测试的有效性和相关技术。 8. 内建自测试（Built-in Self-Test, BIST）：讨论了如何在芯片内部集成测试功能，以便在无需外部设备的情况下进行自我诊断。 9. 数据压缩结构和压缩关系：对于内存和SoC（System-on-Chip）等复杂系统，如何通过压缩技术优化测试效率。 10. 可测性设计方法：对不同类型的电路（如Memory和SoC）提供针对性的可测性设计指导。 这本书不仅适合集成电路设计、制造、测试和应用的专业人员，也是高校高年级学生和研究生学习VLSI系统设计与测试的重要参考资料。它强调了测试在VLSI产品开发过程中的核心地位，并强调了可测性设计的重要性，这对于确保产品质量和提升生产效率至关重要。 版权方面，未经许可不得复制或抄袭书中的内容，违反者将承担法律责任。同时，电子工业出版社提供了联系方式，以便读者在遇到质量问题或侵权行为时能够及时反馈。