NASA PEM-INST-001:塑封微电路的选择、筛选与鉴定指南

"PEM-INST-001(塑封微电路选择、筛选及鉴定程序)归类.pdf" 是一份由NASA Goddard Space Flight Center出版的技术报告，由Dr. Alexander Teverovsky和Dr. Kusum Sahu编写，并由Dr. Henning Leidecker审阅，Darryl Lakins批准。这份报告详细阐述了塑封微电路（PEM）的选择、筛选和资格鉴定的流程和方法。 报告内容主要涉及以下几个关键知识点： 1. **塑封微电路（PEM）**：塑封微电路是电子元件的一种，它使用塑料封装来保护内部的半导体芯片。这种封装方式可以提供防潮、抗机械冲击和电磁干扰的保护，广泛应用于各种航天和电子设备中。 2. **选择过程**：报告详细描述了在航天应用中选择PEM时应考虑的关键因素，如可靠性、环境耐受性、温度范围、寿命预期等。选择过程通常包括对供应商的评估、组件的规格验证以及与系统需求的匹配度分析。 3. **筛选程序**：筛选是确保组件质量的重要步骤，它涉及到一系列测试，如老化测试、温度循环测试、湿度偏压测试、振动测试等，以暴露潜在的缺陷和早期失效模式。 4. **鉴定（Qualification）**：鉴定过程是确认组件是否满足既定的性能和可靠性标准。这可能包括模拟实际工作条件下的长期测试，以验证组件在极端环境下的持久性和稳定性。 5. **NASA的科学和技术信息（STI）计划**：报告背景提及NASA的STI计划办公室，其负责管理和传播NASA的科研成果。这个计划是NASA维持航空和空间科学发展前沿的关键途径。 6. **NASA STI报告系列**：该报告是NASA STI报告系列的一部分，这些报告包含了NASA在研发活动中的研究成果，是航空航天领域的重要技术文献资源。 这份PEM-INST-001指导文件对于从事航天工程、电子设计和质量保证的专业人员来说具有极高的价值，它提供了规范化的流程和标准，有助于确保在极端环境下工作的电子系统的可靠性。