基于虚拟阻抗的并联逆变器控制研究：线阵扫描AOI系统精密调校与关键技术突破

本研究论文聚焦于"m光学-基于虚拟阻抗的并联逆变器控制研究"，主要探讨的是线阵扫描自动光学检测(AOI)系统的关键技术。作者陈镇龙，在电子科技大学光电信息学院攻读光学工程博士学位，其研究主题围绕单相机和多相机线阵扫描AOI系统的精密调校展开。 首先，论文深入研究了线阵扫描AOI系统的实时时间机器调校技术，通过建立光机调整自由度的模型进行分析。作者创新性地提出了一种解决线阵扫描精密成像调节问题的测试方法，这种方法在单相机高分辨率系统中得到了应用，实现了分辨率达到2.7μm的AOI系统精密校准，这是国内行业的首次突破。 接下来，研究扩展到多相机系统，对标定板图形设计、系统调试流程进行了优化。实验结果显示，多相机系统能够实现扫描幅宽2.4m、光学分辨率0.08mm以及高达24m/min的检测速度，像素级测量精度得到显著提升。这一技术成果在国内尚属首次报道，对于提高线阵扫描AOI系统的误差分析和工程调试效率、精度具有重要意义，对推动相关技术的产业化进程具有重大影响。 总体来说，本文不仅关注单相机系统的优化，还探索了将其扩展到多相机系统的技术挑战和解决方案，展示了作者在自动光学检测领域的深厚理论基础和实践经验。这项研究对于提升线阵扫描AOI系统的性能，特别是在精密制造和质量控制中的应用，无疑是一次重要的技术创新。