PXI Express技术驱动高速混合信号测试系统革新

"基于PXI Express的高速混合信号测试系统，是一种先进的测试技术，结合了电子技术和模块化设计，尤其适用于高速测量应用。该系统利用PXI Express的优势，提供高达2GB/s的数据传输速率，打破了传统PXI系统的限制，使得原本需要定制硬件或专用仪器才能完成的高速测试变得可行。 PXI Express是基于PCI Express技术构建的，它显著提高了PXI平台的背板带宽，从原来的132MB/s跃升至6GB/s，提升了45倍以上。这一进步不仅体现在带宽的提升，还包括增强的定时和同步功能。例如，PXI Express提供了100MHz的差分系统时钟、差分信号和差分星形触发，这些改进提高了时钟的抗噪声能力，支持更高的时钟频率，从而能处理更复杂的信号测试。 在保持与现有PXI系统和软件兼容性的前提下，PXI Express引入了混合插槽设计，允许在同一个插槽内同时兼容PXI和PXI Express模块。这确保了硬件和软件投资的保护，用户可以轻松升级现有的PXI系统而不必担心兼容性问题。 基于PXI Express的测试系统具有三大核心优势。首先，其灵活的软件定义仪器系统允许用户获取原始测量数据并进行自定义分析，适应不断变化的技术需求，如在无线通信测试中的软件无线电架构。其次，模块化设计提供了超过1500种不同类型的高性能PXI仪器，用户可以根据实际需求选择，降低了初期投入，并且便于后续升级。最后，高速数据吞吐量和精确的定时同步特性确保了对高速信号的高效准确测试，这对于混合信号测试至关重要，特别是在半导体芯片（如ASIC）的测试中，可根据信号特性灵活配置和升级测试系统。 基于PXI Express的高速混合信号测试系统是自动化测量和控制应用的理想选择，它结合了高速性能、灵活性和模块化集成，为测试和测量行业带来了革命性的变化。"