边界扫描描述语言：IEEE 1149.1标准与VLSI测试方法

边界扫描描述语言（Boundary-Scan Description Language，BSDL）是一种在VLSI（Very Large Scale Integration，超大规模集成电路）领域中被广泛使用的标准化测试语言。它源自IEEE 1149.1标准，并且是VHDL（Hardware Description Language，硬件描述语言）的一个子集，用于描述符合该标准的器件的可测性特性。BSDL的重要性在于它提供了一种清晰、严谨的方式来编写和交流测试逻辑，使得设计符合IEEE 1149.1标准的集成电路能够有效地进行测试和互连验证。 BSDL的核心功能包括执行内建自测试（In-Built Self-Test，IBST），这是一种通过TAP控制器在设备处于“运行-测试/空闲”模式时执行的低数据交换量测试方法，它仅触发片内的测试，并在测试完成前禁止输出响应。测试结果会由边界扫描寄存器捕获，再通过TDO（Test Data Output）线路移出，以确保器件在生产过程中的可靠性和一致性。 测试边界扫描寄存器是BSDL操作的重要组成部分，这些寄存器用于存储和传输测试数据，因此对其进行全面测试至关重要。在VLSI设计过程中，BSDL不仅应用于芯片设计阶段的可测性设计，也扩展到电路级、芯片级乃至系统级的测试策略，涵盖了诸如组合电路和时序电路的测试生成方法、专用可测性设计、IDDQ（Input_Delay_Duty_Cycle）测试、随机和伪随机测试、以及内存（Memory）和SoC（System-on-Chip）等复杂组件的测试设计。 此外，书中还介绍了内建自测试原理，包括数据压缩结构和其关系，这些都是提高测试效率和减少测试复杂性的关键要素。VLSI测试方法学和可测性设计不仅对设计、制造和测试工程师具有指导意义，也成为了高等教育机构教学的教材，培养下一代集成电路专业人士的必备知识。 BSDL在VLSI测试中的应用是现代集成电路开发流程中不可或缺的一环，它确保了产品的高质量和可靠性，是整个集成电路产业链中沟通、协作和优化的重要桥梁。随着技术的发展，BSDL的标准和工具也在不断更新，以适应更高的测试需求和挑战。