基于ATE的SoC射频测试技术：挑战与解决方案

本文主要探讨了"基于ATE的SoC射频测试技术"这一主题，针对现代无线通信终端设备中至关重要的SoC（System-on-Chip，片上系统）芯片，特别是在其射频部分的测试方法。SoC芯片作为无线通信设备的核心，其测试过程对产品上市速度、产品质量和售后服务成本具有重大影响。测试工作分为特征描述阶段和量产阶段，其中，特征描述阶段通常采用 bench 测试，即在实验室环境中使用台式仪表进行初步功能验证；而量产阶段则依赖于自动测试设备 (ATE) 测试，通过定制化的测试程序执行系统级测试，确保芯片在大规模生产中的性能和一致性。 文章的重点在于射频部分的测试，因为这涉及到射频信号完整性、电磁兼容性和复杂的基带算法。这些特性使得射频测试成为SoC芯片测试中的挑战。研究人员的目标是在现有软硬件资源的限制下，探索如何优化和提升基于ATE的射频测试技术，以提高测试效率，减少故障率，并确保射频功能的精确性和可靠性。 本文可能涵盖了具体的技术解决方案，如自动化测试脚本设计，射频信号分析工具的应用，以及如何通过集成测试平台来实现高效且一致的射频性能评估。此外，还可能讨论了测试环境的设置、测试结果的解析以及与传统测试方法相比的优缺点分析。 论文作者在导师董堡型丝的指导下，针对通信与信息技术领域的硕士研究生项目进行了深入研究，论文提交和答辩的时间安排在2011年5月28日。作者强调了论文的原创性和学术诚信，声明论文中没有包含他人的未公开成果，并对共同工作的同事表示了感谢。 论文作者还明确了学位论文的版权使用授权，允许学校保留、使用和传播学位论文，并允许其被编入数据库进行检索。在签署的版权使用授权书中，作者确认了解并同意这些规定。 本文是一篇结合理论研究与实际应用的深度探讨，旨在解决SoC射频测试中的技术难题，为无线通信设备制造商提供实用的测试策略和方法。