1干涉型高光谱相机中的耀斑作者：Yoav Y. Schechner Viterbi电气工程学院以色列理工学院以色列gmail.com，yoav@ee.technion.ac.il塔利·特雷比茨海法大学查尼海洋科学学院以色列海法ttreibitz@univ.haifa.ac.il摘要杂散光（光斑）是由光学元件之间的内部反射在相机内部形成的。我们指出耀斑效应的显着幅度和含义快照高光谱成像仪。最近的技术能够将基于干涉的滤波器放置在成像传感器中的各个像素上。这些滤波器在自定义波长附近具有窄的传输带和高传输效率。使用这种滤波器阵列的相机是紧凑的、鲁棒的和快速的。然而，与通常吸收不想要的光的传统宽带滤光器相反，窄带通干涉滤光器反射非透射光。这是一个非常显著的耀斑源，它使高光谱测量产生偏差。任何像素中的偏差取决于其它像素中的光谱内容。我们提出了一个理论的图像形成模型，这种效果，并量化它通过模拟和实验。此外，我们测试了受这种耀斑影响的信号的耀斑。1. 介绍高光谱成像仪越来越多地用于计算机视觉[3，5，6，14，20，25，27，29]，如在其他成像领域，例如。遥感[15]、生态学[21，30]和生物医学成像。高光谱相机的各种架构具有空间/光谱/时间分辨率和光聚集效率的不同折衷（即，信噪比）。例如，RGB相机具有高的时空分辨率，但具有差的光谱分辨率（仅三个宽带）。线扫描高光谱相机具有高的空间-光谱分辨率，但扫描减慢采集，因此限制了时间分辨率。最近的技术发展使得快照高光谱相机（SHYC）能够快速、紧凑、鲁棒并且特别适合于自动驾驶车辆。它们基于一组像素大小的窄带干涉滤光片，这些滤光片直接安装在高分辨率传感器上，位于镜头后面[1，11，17，23，28]。SHYC牺牲一些图1.安装在Imec SNm4x4 VIS传感器中的检测器阵列上的16个窄带干涉滤光片[26]的示例每批16个滤镜安装在4×4像素的马赛克中，这概括了RGB相机的2×2拜耳模式这样的传感器权衡空间分辨率以增加光谱分辨率。第然而，干涉滤光片是高度反射的。[插入] XIMEA MQ 022HG-IM-SM 4X 4-VIS C卡口相机采用此传感器，用于我们的实验。空间分辨率为光谱分辨率，如图所示1.一、在本文中，我们表明，这样的传感器承担显着的退化（见图。2）：杂散光（光斑），其比传统技术中遇到的透镜光斑强得多。高光谱相机通常寻求解析明确定义的窄光谱带。然而，传输的信号能量随着通带变窄而减小。因此，对于光传输的效率存在重要需求，从而最小化通过检测器的光谱带中的能量损失。满足这两个需求可以使用基于干涉的既定理论和工具来设计。干涉滤光片具有非常有效的光学传递，并且可以产生非常窄的频带。这些滤波器有时被称为Fabry-Pe'rot（FP）标准具[7]。然而，我们在成像的上下文中指出一个警告：使用中的FP滤波器具有非常高的反射率。这导致非常强烈的耀斑。耀斑也存在于日常的RGB相机中，并已在计算机视觉和图形通信中进行了研究1017410175高光谱耀斑规则耀斑规则耀斑标准（高度-吸收性）过滤器干扰（高度-反射）滤波器源点源传感器透镜传感器透镜点图2. [左]在标准RGB相机中，滤镜是吸收性的。透镜耀斑是一种弱的二阶效应，只有当光源非常明亮时才有意义[右]快照高光谱相机（SHYC）中使用的干涉滤光片具有高度反射性，可从普通场景点产生强烈的耀斑。关系的然而，普通相机使用吸收滤光片。然后，耀斑源于内部镜头反射，需要至少两个反弹在镜头系统到达相机（见图）。2）的情况。因此，它被称为透镜光斑，并且仅在源自强光源时才是重要的，例如，阳光与此相反，正如我们所展示的，干涉滤光片反射光线如此强烈，以至于即使是从透镜上反射一次，也会导致强烈的耀斑。通过仿真和实验，分析了干涉滤波器（FIIF）引起的耀斑的成像过程，证明了FIIF引起的耀斑的大小是期望信号的几倍。镜头光斑-独立于FIIF-已经在计算机视觉，光学和计算机图形文献中建模[8参考文献[22]提出了一种使用包括掩模的外部可移动掩模来评估和减去透镜光斑镜头光斑通常位于直线上[12]，通过光轴和光源（太阳）的像平面投影。使用这种洞察力和相机移动时拍摄的一些图像，可以部分估计、补偿甚至利用透镜光斑来评估这些几何实体[12]。这对计算机视觉很有用这些方法也可以部分用于图3. FP标准具包括介电介质，该介电介质具有折射率n和在具有反射率R的反射（部分反射镜）表面之间的厚度d。不同的反射顺序相互交错。总体FP透射率和反射率可以针对窄通带进行设计2.1. FabryPe'rot过滤器FP标准具的简单模型如下[9]。无损耗介电材料层具有折射率n和厚度d。波长为λ的光以相对于法线的角度θc穿过该层，2πnδ=d cos θc。（一）λ假设该层夹在两个镜子之间。每个反射镜具有强度反射率R，即反射是部分的。因此，电介质层内部的光部分被捕获在那里，在镜子之间来回反射多次（直到无限远）。在FP标准具处的每个内部反射轮（反射阶）中，相位被进一步累积。由于每个反射镜都具有部分反射率，因此它也具有部分透射率。在无损耗镜中，所有未被反射的能量都被传输，反之亦然。在每个FP内反射阶中，一些光从标准具泄漏出来，与其他反射或透射阶的光干涉（图2）。（3）第三章。这种干涉增强或抑制FP标准具的总透射率和反射率，分别由以下表达式计数器FIIF。已考虑使用其他方法去除镜头眩光，包括光场相机[18]，贝叶斯[24]或基于样本的图像修复[4]。TFP（λ）=Σ4R1 +（1−R）2罪.2πndcosθcλΣΣ−1、（二）2. 理论背景在本节中，我们描述迄今为止单独考虑的现有光学模型：基于干涉的光谱滤波器的光学传递以及相机中的镜头光斑。节中3，当这些光学滤波器被用于相机内部时，耀斑被示出要强得多。RFP（λ）= 1 −TFP（λ）。（三）通常，干涉滤波器可以更复杂。它可以由多个层制成，每个层具有不同的折射率、厚度，并且具有一些损耗。然而，在SHYC中使用的干涉滤光片的一般性质类似于在方程中表达的那些。（2，3）：(A) 非透射光的强反射。在滤波器的通带内实现高效传输。10176透镜透镜图4.我们的商业传感器中使用的16个窄带滤波器的校准transmittance（图1）。①的人。该数据对应于正入射。传感器制造商提供的数据。(B) FP反射率和透射率强烈地依赖于波长。作为一个例子，图4绘制了我们的商用传感器中使用的16个窄带滤波器的透射率（图1）。①的人。这种依赖性可以通过控制每个过滤器中每个层的厚度和材料来设计。(C) 滤波器的选择性由其精细度定义。对应于上面的简单FP设置，技巧由无单位表达式4（四）精细度越高，FP通带越窄，因此在该窄通带之外的所有波长的总反射率越强。(D) FP光传输取决于入射角。使入射相对于层法线倾斜会使FP通带的中心波长偏置2.2. 镜头光斑图5. [Top]镜头光斑由镜头表面之间的二次内反射形成。[底部]来自场景的光线通过镜筒，并在相机内部的干涉滤光片处强烈反射然后，背反射光在透镜表面或虹膜处进行单次这可以创建强FIIF，其使高光谱图像测量产生偏差。镜头眩光1是发生在镜头中O（I源R2）级辐照度）的情况。四阶反射-在镜头[19]。 当光线穿过一个产生O（I源R4）阶的图像辐照度）的情况。作为光学成像系统（透镜元件），折射率（特别是空气/玻璃）在折射表面处引起弱的部分背反射。 背反射R透镜101，所有高阶反射可忽略，其它而不是二次反射。镜头光斑辐照度F镜头为因此，然后，光再次穿过光学系统，在折射表面产生微弱的次反射这些O（F透镜）M（2M−1）I源2透镜.（五）二次反射向检测器阵列传播（图11）。5a）。二次反射的部分能量到达检测器阵列：这是镜头眩光。二次反射的另一个组成部分重复上述过程，产生更高阶的反射，进一步促进耀斑，尽管能量逐渐减少。奇数阶反射将能量引导出相机系统。复合相机镜头中的透镜元件的数量是M。二次反射的总数[13]（涉及两个表面）为Nsec=M（2M−1）。让影像由景物光源引起辐照度是I光源。 表示类型-折射表面的实际反射率为R透镜的反射率。因此，第二次反射（涉及两个表面）产生图像1镜头眩光在文献中也称为镜头眩光、重影反射和杂散光。这些术语在本文中可以互换。注意，在典型照明下，光斑强度F透镜不相干地添加到感测图像。耀斑级不干涉相干波振幅。这与FP标准具中的反射顺序相反，在第2.2节中进行了讨论。2.1.这种区别的原因源于连贯性入射光的长度L在自然照明中，L为λdn，其中FP厚度d为0（微米），因此能够通过FP标准具进行干涉。另一方面，透镜元件表面之间的典型距离是O（mm），其比L长，因此抑制了光斑分量之间的相干振幅干涉。对于一个简单的玻璃/空气界面，R透镜占4%。基本上所有现代成像镜头的抗反射镜头涂层都将R镜头降低到100。百分之五然而，请注意，抗反射涂层是基于FP原理，R10177FPFPFPFPFPFPFP源FPFP源FP4MIFPFPFPFPFPFP干涉滤波，这使得它们对光波长敏感。因此，从这一点开始，我们用R透镜（λ）表示透镜反射率。在这种情况下，典型的-地区 FIIF通常投影超过像素x到像素y，对于像素y，滤波器通带B（y）/=B（x）。因此，FP→透镜反射在y处产生FIIF分量，或CallyO（Flens）<$10−4Isource. 对于典型的场景对象，X源（λ）Rx （λ）R透镜（λ）T y（λ）]。因此，透镜闪光相对于无闪光场景Ra是可忽略的我的消息来源是迪安斯。对于镜头眩光是显著的，它必须由比视场（FOV）中的较暗区域亮几个数量级的光源产生[22]具体来说，太阳比太阳照射的太阳亮10.5倍[12由于像素x处的滤波器反射，像素y处的FIIF为表示为Fsingle（y，λ|X）。考虑到所有2M折射表面的单次反射，O[F single（y，λ|（6）太阳是一种常见的太阳能宣布镜头闪光。X源（λ）Rx （λ）R透镜（λ）T y（λ）。与透镜光斑F透镜相比，我们在下一节中展示了FIIF（表示为FFP）更为严重。是对于在B（y）中但不在B（x）中的波长，x（λ）T y（λ）4 1. 因此，Eq.（6）退化到显着诱导普通场景点，无处不在。O[F single（y，λ|x）]102MIx（λ）R（λ）。（七）此外，FFP比F镜头亮得多，因为它将FP源透镜也是在一阶透镜反射上。3. 干涉滤光片引起的耀斑本节指出了一种新的耀斑现象，这是由相机内的窄带通干涉滤光片的存在引起的。因此，这是在SHYC内部创建的效果，其中相机像素直接覆盖有干涉带通滤波器。本节进一步提供影响的数量级分析，从理论上表明其严重程度。然后，在第二节中通过数值模拟对高光谱滤波器阵列的高阶反射、空间方向图和复合透镜中元件的曲率进行了详细的分析4.第一章实验表明，效果在第二。五、3.1. 透镜的单次反射本文的分析表明，FIIF通常比镜头光斑强得多，并且是由所有场景点引起的，而不仅仅是像太阳这样的明亮源。具有源光谱Ix（λ）的对象被投影到传感器平面上的滤波器覆盖的像素x上。滤波器的透射率和反射率分别为T x（λ）和R x（λ），Eqs.（6，7）有意义。这意味着像素y处的光谱样本由于来自像素x的光谱内容的污染而被偏置。不用说，像素y通常不仅由于来自像素x的反射，而且由于来自许多附加像素的反射而受到FIIF的影响。因此，偏倚是显著的。FIIF不需要强光源，与透镜光斑相反。例如，对于R透镜，5%（参见第二节）。2.2）和M= 7个透镜元件时，偏差测量几个折射率。由于SHYC主要用于要求苛刻的感测应用，因此如果不考虑这种偏差，则这种偏差可能对这些应用的结果具有显著的影响。3.2. 透镜的双重反射安装在检测器阵列上的干涉滤光器也产生显著的二次透镜反射。考虑以下反射序列：FP→镜头→FP→镜头。透镜表面的第一次反射将光投射到滤光片覆盖的检测器阵列。在那里，像素z有效地将光反射回透镜条。 透镜表面的二次反射投射出光线再次朝向过滤器覆盖的检测器阵列。该光的一部分由像素y捕获。该分析概括了SEC。第3.1条 每一个这样的事件都会产生一个耀斑分量，顺序O[Ix（λ）Rx（λ）R2（λ）Rz（λ）Ty（λ）]。等式（2，3）。通过B（x）定义FP窄光谱通-源FP透镜FP FP在X波段。如上所述，依赖于干扰的SHYC需要窄通带（高精细度）和通带的高透射率。因此，Rx（λ）41，<$λ∈/B（x）.有4M2的可能性，为二级透镜反射，从2M透镜表面.由于在像素x处的原始入射和中间两个透镜反射，在像素y处的总体FIIF表示为Fsingle（y，λ|X）。这是命令F或<$λ∈/B（x），事件的主要部分，O[F秒（y，λ|（8）因此，能量被背向反射离开探测器阵列FP，（图5b），能量为O[Ix（λ）RxX源（λ）。2x源（λ）Rx2透镜（λ）Ty（λ）z（λ）。然后，背反射的光在2M中的任何一个处部分反射，折射（透镜）表面，如第2节所述。2.2，向探测器阵列发射辐射，产生耀斑分量。在这里，与SEC的模型相反。2.2，从任何单个透镜表面的单个反射产生信号，zz求和是在检测器阵列上的所有N个像素对于在B（y）中但不在{B（x），B（z）}，方程（8）退化到显著的耀斑辐照度（图5 b）。由于几何形状O[F秒（y，λ|x）]×4M 2N像素Ix（λ）R2德O[I2架MIR[（λ）]碘（λ）RR10178（λ）FP在大多数折射表面中，这种耀斑分散在源透镜（九）10179透镜透镜虹膜FPFP这个分量的大小类似于透镜光斑，按M2R2比例缩放。在仔细的测试中，我们发现一些反射是由于镜头光圈的金属叶片。涉及虹膜的FIIF遵循与Eqs类似的表达式。（6-9），与微小的修改：在方程。（6，7），使用虹膜反射率R虹膜而不是2个MR镜头。在方程式（8，9），术语4M2R2是或者由4个MR透镜R虹膜代替（在-涉及晶状体和虹膜）或由R2（两次互动）虹膜）。3.3. 火炬污染的 场景 源 是 一 无耀斑 光谱图像，图6.一个模拟系统的布局，包括埃德蒙Op-X源（λ），它通常分布在一个域上，tics采用#59-870 16 mm固定焦距镜头设计。这个镜头-像素，直到整个图像域。通过滤波器阵列测量的光源的总光功率为：Σ∫该系统由7个透镜单元、两个三元组和一个前准直透镜组成此插图对来自源的单条光线进行采样。该光线被光谱滤波器反射，然后在透镜表面分裂。E源=x∈ΩX源λ（λ）T x（λ）dλ。（十）这里，波长积分是在滤波器下方的检测器阵列的灵敏度域上，并且空间求和是在图像域中的所有像素上。总的来说，FIIF包括许多反射阶数：它们涉及通过光学元件的任意数量的反射，并且所有这些阶都涉及通过干涉滤光器的至少一次反射。FIIF（所有阶）的结果是一个光斑图像，表示为FFP（y，λ）。FIIF的总光功率是EFP= Σ∫y∈λFFP（y，λ）dλ.（十一）我们定义总的FIIF污染，图7. [Top]单个SHYC滤波器阵列的3D布局，排列成4×4单元。[底部] 16个模拟样本C=EFP/E源.（十二）函数Tx（λ）。不同的滤波器具有不同的通带，这在一定程度上受入射角的影响。4. 现象的模拟为了严格研究FIIF，我们使用了详细的模拟，包括由Zemax Opticstudio软件建模的光学设置以下是他们的详细资料。探测器阵列。现成SHYC的一个示例是包含IMECSNm 4x 4-VIS传感器。它基于干涉滤光片。我们尽可能地把模拟和这个摄像机匹配。相应地，该模型使用二维1024×2048阵列或像素。 每一个像素都被单个干涉（FP）滤波器，如下所述。像素化滤波器以4×4重复模式排列（图1）。（六）。该装置记录的高光谱图像的有效空间分辨率为256×512像素和16光谱带FP过滤器。每个模型化滤波器由模型化反射镜和电介质玻璃层创建。过滤器包括金属由银（Ag）和硫化锌（ZnS）制成的表面，0. 08-0。10µm厚，MGF2玻璃层厚度为1. 5 -2µm。Zemax软件计算每个滤光片的光谱透射率和反射率，这些参数。因此，我们调整了层的厚度和反射率（图1）。7），因此Zemax软件产生16个滤波器，其通带类似于SNm 4x 4-VIS传感器的通带。复合透镜。镜头型号是Edmund Optics的16 mm定焦镜头，设计编号59-870。它由7个透镜元件组成，如在[10]中发表的透镜元件在模型中有一个模拟的抗反射涂层（图。8[左]）。爱瑞丝模型虹膜叶片要么部分反射金属（图。8、完全吸收。虹膜我我10180图 8. [左]-镜片抗 反射涂层 的模拟反 射率 [右]金属光 圈（Zemax目录标准METAL 1涂层轮廓）。图9.模拟FIIF。 虹膜叶片具有吸收性。 [Top]示例图像。[底部] FIIF污染作为波长的函数，以波长为单位。设f #= 1。四四十六光源的该物体是具有宽带卤素光谱的各向同性点源。它位于相机的光轴上，或者7。离轴5°每个图像都是由Zemax使用200万条光线渲染的。射线的采样方法是Sobol序列蒙特卡罗。对应于吸收和金属虹膜叶片，图1和图2。图9、10描绘了使用三种不同孔径尺寸和两个源位置的结果显然，改变源位置强烈影响FIIF分布。有些反射涉及晶状体，有些涉及虹膜。关闭虹膜会降低与镜片相关的FIIF，但会增加与金属叶片虹膜相关的FIIF。基于这些模拟，我们数值评估了FIIF污染C（公式10）。12）在SHYC中使用。在我们的模拟中，我们发现C在2%到5%之间。这比普通相机中镜头光斑的污染高得多，普通相机的污染为O（10−4），如图11所示。图10.模拟FIIF。金属虹膜叶片部分反射。[Top]示例图像。[底部] FIIF污染作为波长的函数，以波长为单位。秒2.25. 真实世界的实验证据我们在真实世界的实验中使用物理SHYC证明了FIIF的大小。该设置如图所示。11个国家。如在模拟中一样，实验使用SHYC模型XIMEA MQ 022 HG-IM-SM 4X 4-VIS内含IMEC SNm 4x 4-VIS传感器。为了比较，实验还使用具有RGB拜耳马赛克的标准相机参考是一个IDS-ML相机，它有一个TELEDYNE E2 V RGB传感器。这两台相机相邻，使用相同型号的镜头观察相同的场景，Edmund Optics 16 mm VIS-NIR #67-7142。光源是一个直流供电的卤素灯泡，通过一个漫射器和一个小孔照明，有效地是一个小的漫射源。图中比较了SHYC拍摄的图像。图12示出了由参考RGB相机拍摄的图像。该比较揭示了透镜光斑（现有技术中报道的）与FIIF之间的区别。后者通常更明亮，空间更广阔。图13示出了对于几个离轴角度和f#值，用SHYC拍摄的图像。FIIF是一个重要的，具有广泛的广度，比镜头光斑更大该图绘制了作为波长的函数的FIIF污染在所有实验中，C均为5%。除了强度变化外，FIIF还有质的影响，影响，因为它改变了在受影响的传感器区域获得的光谱，如图所示14[top]. 为了量化影响，2我们找不到此镜头的公开Zemax型号。因此，模拟使用了稍微不同的镜头。10181图11.描述我们的实验装置。我们在SHYC旁边放置了一个RGB相机。两者都使用相同型号和设置的镜头对相同的光源进行我们用了一个40瓦的光晕灯泡放在屏障后面。图12.[左]使用RGB摄像机从我们的实验设置中进行高动态范围测量[右]使用SHYC对相同设置进行高动态范围测量。FIIF具有比透镜光斑更宽的空间扩展。用我们的SHYC制作了一张彩色图表测得的光谱不同于公布的地面实况。为了验证，Fig.图14 [底部]描绘了在导致较少FIIF的照明条件下相同颜色图表的SHYC光谱读数。在那里，测量结果非常接近地面真实光谱。在标准操作之后，通过将测量值除以灰色块测量值来计算反射率，灰色块测量值本身可以包含FIIF。然而，FIIF的光谱效应仍然是可见的。图13. [Top]小光源（卤素灯）的图像以及在不同空间位置和f#值下产生的FIIF。[Bot-在这些设置中的每一个中的污染C6. 宽视场场景我们在实验中证明了FIIF的部分数字减少实验场景是密集和宽视场的，即，而不是点源。因此，拉伸FOV范围的许多区域因此，FIIF非常平滑和广泛，跨越FOV的主要区域这与典型的透镜光斑相反，透镜光斑通常由太阳或其他稀疏且非常明亮的点源产生参考文献的方法[22]依赖于通过包括遮挡屏障的大掩模获取的场景的长序列其缺点是采集时间长，这意味着静态场景的成像。然而，它适用于漫射耀斑，并且在我们的实验中确实有效，如图11所示。十五岁通过运动偏转[12]使用在相机轻微横向旋转时拍摄的非常短的原始图像它很快。然而，[ 12 ]中的后处理利用了透镜光斑通常在空间上限于两点之间的线附近的事实：太阳（或其它亮点源）的投影和光轴的投影。这不是由具有普通场景点的广阔区域引起的FIIF的性质。因此，[12]的方法在对抗FIIF方面只有适度的成功。该实验总结于图1B中。十六岁7. 讨论本文指出了一个重要的和未报告的缺点SHYC是基于干扰滤波器。窄带透射干涉滤光器本质上是高度嵌入相机内部，它们会产生强烈的杂散光，从而产生强大且空间广阔的FIIF。FIIF偏置任何高光谱测量10182图14. FIIF具有定性效果，因为它改变了测量光谱的形状。[Top]用SHYC记录的漫射天空FIIF是广泛的。它会影响色标的测量光谱（实线），这与地面真实光谱（虚线）不同。[底部]相同的颜色图表在不同的照明条件下成像，导致FIIF较少然后，测量的光谱（实线）与地面真实光谱（虚线）非常相似点，这种偏见取决于现场，即。独立场景点的光谱内容。我们测试了先前的爆燃方法来对抗FIIF。然而，并不是所有的方法都适合FIIF.FIIF的有趣本质要求更新的爆燃方法。此外，更强的解决方案可能涉及光学硬件方法来对抗杂散光。例如，Scheimpflug原理使得传感器平面能够相对于透镜的光轴倾斜，同时保持物体聚焦。在倾斜的传感器平面中，由所附FP滤波器反射的杂散光可能会显著地错过透镜图15.（1）整个场景与FIIF。（二）被破坏的场景。c) 我们获得的场景的四帧之一，通过一个快速移动的屏障成像。d）估计的耀斑。由于屏障的形状，耀斑具有部分垂直图案图16. a）室外场景的四个获取图像中的三个。相机在帧之间稍微横向旋转FIIF很强大。b）使用[12]进行爆燃的结果。这种改善只是适度的，因为FIIF本质上非常广泛。元件，从而在光学上降低FIIF。更有趣的可能是光学设计、图像序列和后处理算法的整体方法，以对抗FIIF。例如，每个光谱滤波器可以复用几个波长带，以便减少反射，并且光谱解复用可以在后处理中计算地完成[2，16]。干涉滤光片可以包括有损材料以减少反射，并且透镜抗反射涂层可能需要与高光谱滤光片共同设计确认YYS是一个朗道研究员-由陶布基金会支持。他的工作得到了以色列科学基金会（Grant 542/16）的支持TT得到了科学、技术和空间部（第3-12487号赠款）和以色列科学基金会（第680/18号赠款）的支持。这项研究 的 一 部 分 是 在 Ollendorff Minerva 中 心 进 行 的 。Minerva由BMBF资助。我们感谢Aviad Avni，MarkSheinin和Vadim Holodovsky在实验中的帮助10183引用[1] Helge Aasen ， Andreas Burkart ， Andreas Bolten ， andGeorg Bareth.用轻型无人机快照相机生成3D高光谱信息，用于植被监测：从相机校准到质量保证。遥感学会J. of Photogrammetry and Remote Sensing ， 108 ： 245-259，2015。1[2] Marina Alterman，Yoav Y. 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