下列哪些设计可能会对芯片DFT产生不利影响 A.门控时钟设计 B.使用双沿时钟设计 C.内部三态门总线 D.使用内部产生的时钟

B.使用双沿时钟设计可能会对芯片DFT产生不利影响。因为使用双沿时钟会导致芯片测试时序变得复杂，可能会对芯片DFT测试的覆盖率和可靠性产生影响。而A、C、D三个选项不一定会对芯片DFT产生不利影响，因为门控时钟设计、内部三态门总线和使用内部产生的时钟可能会在一定程度上简化测试时序，提高芯片DFT测试的覆盖率和可靠性。

相关问题

数字芯片DFT设计主要注意点有哪些

数字芯片DFT设计的主要注意点如下：

1. DFT测试对芯片面积和功耗的影响：DFT设计需要考虑测试资源的数量和布局对芯片面积和功耗的影响。

2. 测试模式的设计：测试模式需要具有良好的可观察性和可控性，并且需要满足测试要求，例如测试时间和容错率。

3. 测试接口的设计：测试接口需要满足测试数据传输的要求，并且需要考虑测试时间和测试成本的平衡。

4. 测试数据压缩和解压缩技术的应用：测试数据压缩和解压缩技术可以降低测试数据传输和存储的成本，并且可以缩短测试时间。

5. 测试覆盖率的评估：测试覆盖率是评估测试质量的关键指标，需要根据测试目标和测试要求进行评估和优化。

6. DFT与设计的集成：DFT设计需要与芯片设计进行紧密的集成，需要考虑DFT对芯片性能和功耗的影响，以及DFT与其他设计功能的冲突和协同。

学习芯片设计中的DFT的书籍有哪些

### 回答1：
学习芯片设计中的DFT（设计测试技术）的书籍有很多，以下是一些推荐的书籍：

1. "芯片设计中的DFT：原理、技术与实践" by 赵永强
2. "高效的芯片DFT设计" by 赵锦绣
3. "芯片设计中的测试技术：DFT与ATPG" by 田晓光等
4. "芯片测试技术：DFT与ATPG" by 陈建国
5. "VLSI测试技术：DFT与ATPG" by 张志勇等

这些书籍可以在亚马逊或者当当网等在线书店购买。希望这些信息对你有帮助。

### 回答2：
学习芯片设计中的DFT（Design for Testability）的书籍有以下几本：

1. 《DFT手册》：由知名芯片设计专家编写，详细介绍了DFT的基础概念、原理、方法和技术，对于初学者具有很高的指导作用。

2. 《芯片DFT设计与验证》：作者系统地介绍了DFT技术在集成电路设计中的应用，包括扫描链、自动测试模式生成（ATPG）、边界扫描和内部测试等DFT技术。

3. 《数字集成电路测试与DFT设计》：该书详细介绍了数字集成电路测试的基本概念、技术和方法，包括DFT设计的基本原则、测试点选择和扫描链设计等内容。

4. 《DFT最佳实践指南》：该书从实践的角度出发，介绍了DFT的最佳实践方法，包括测试计划的制定、测试点验证和移植、设计自动化和工艺制程等方面的内容。

5. 《芯片设计的DFT技术》：该书介绍了DFT技术在芯片设计中的应用，包括扫描链、BIST（Built-In Self-Test）和DFT验证等方面的内容，对于提高芯片测试效率具有很大帮助。

这些书籍都提供了丰富的理论知识和实际案例，可以帮助读者深入理解和掌握DFT的相关技术，对于芯片设计人员和学习DFT的学生来说都是很有价值的参考资料。