ieee1149.1 pdf

IEEE 1149.1是一项在集成电路领域中使用的国际标准。这个标准也被称为JTAG（联合测试行动组）或Boundary-Scan。IEEE 1149.1定义了一种用于测试和诊断集成电路的方法。

IEEE 1149.1标准针对集成电路中的引脚提供了一种标准化的测试接口。通过这个接口，测试者可以访问和控制集成电路内部的逻辑功能，并通过检查引脚之间的连通性，来检测电路中的故障。这种测试接口使用了几个特定的命令和指令，以及一系列状态机来实现。

IEEE 1149.1标准的主要优点是它提供了一种非侵入性的测试方法。这意味着在测试期间不需要对集成电路进行物理修改或添加额外的测试电路。测试者只需要通过标准测试接口与电路进行通信即可。

除了测试功能，IEEE 1149.1标准还定义了一种诊断方法。通过这种方法，可以识别引脚和内部电路之间的故障，并定位问题的具体位置。

IEEE 1149.1标准已经成为集成电路设计和制造领域的一种重要工具。它不仅可以在生产过程中使用，还可以用于故障诊断和维修。

总之，IEEE 1149.1标准是一种用于测试和诊断集成电路的国际标准。它通过提供一个标准化的测试接口，使得测试和诊断过程更加方便和高效。这个标准的使用已经广泛应用于集成电路设计和制造，成为行业的重要工具之一。

相关问题

ieee 1149.1 中文版

### 回答1：
IEEE 1149.1是一种针对数字电路测试的标准，也被称为JTAG（联合测试动态访问组）。该标准的主要作用是提供一种方式，通过某种信号方式来访问数字电路中的测试和诊断功能。

该标准包括了访问链、测试数据寄存器、测试状态寄存器和所有操作的控制操作码等内容。在该标准下，数字电路可以实现对芯片的测试和调试，从而为设计者提供更高效的设计支持。

同时，该标准也为数字电路的制造和维护提供了各种工具和技术，使得数字电路得以快速地进行开发和维修。

虽然该标准是一项已经形成成熟的技术，但随着技术的不断发展，它也在不断进行更新和升级，以满足不断增长的数字电路测试需求。

### 回答2：
IEEE 1149.1标准，也被称为JTAG（Joint Test Action Group）标准，是一种用于电子产品测试和诊断的通用接口标准。这个标准适用于集成电路上的各种测试、诊断、控制、配置和漏洞修复等操作。它为工程师们提供了一种低成本、灵活、高效的测试和诊断解决方案。

IEEE 1149.1标准由一些控制和数据线组成，可以实现串行交互式测试和调试。这个标准通过在芯片内建一个测试访问端口（TAP），实现对芯片内部的所有测试及调试功能的控制与访问。在TAP之上，用户可以通过自定义多个测试状态来进行各种芯片级别的操作。

IEEE 1149.1标准的中心思想是为了提高测试和诊断的效率和准确性。这个标准不仅提供了一系列的测试命令和状态转移机，还提供了一种简单经济的测试结构（boundary scan），可以对集成电路中的信号引脚进行测试。通过这个测试结构，用户可以对多个芯片进行测试，并可在故障时轻松发现故障点，并且还可以轻松进行控制或调试。

总之，IEEE 1149.1标准提供了一种可以广泛应用于不同领域，从而提高测试和诊断效率和准确性的接口标准。它的出现极大地提高了集成电路的测试效率，为电子产品的高效开发和生产提供了强有力的技术支持。

### 回答3：
IEEE 1149.1中文名为“测试与可编程的交连”的标准，是一种在集成电路设计中应用广泛的技术标准。它被广泛应用于半导体器件的生产过程中，尤其是在半导体芯片的测试、排除故障和编程等方面。

IEEE 1149.1标准为芯片设计提供了一种通用的可编程测试接口，也称为JTAG（联接测试与组件测试）。其主要功能包括常规的测试操作和其他更高级别的操作，例如失效模式分析和动态信号分析。同时，它还可以通过JTAG的串行控制端口（TCK、TMS、TDI、TDO）实现电路设计的调试、配置以及功能测试等功能。

IEEE 1149.1标准在半导体生产中被广泛应用，可以大大提高产品质量和生产效率。它可以检测出不良的芯片、检测芯片的封装和焊接问题、检查电路中的信号和电源线等，从而提高产品的可靠性和稳定性。

在半导体设计领域中，IEEE 1149.1标准已成为一种通用的测试标准。同时它也是一种常用的编程接口，可以用于PLD、FPGA等可编程器件的编程，以及实现ASIC芯片的快速仿真。

总之，IEEE 1149.1标准的中文版为芯片测试与可编程交连提供了一种有效和可靠的标准方法，其中包括了芯片测试接口和数据传输接口等功能，可以大大提高芯片的测试和编程效率，是半导体行业发展中不可或缺的一部分。

ieee1149.6

IEEE 1149.6是一种称为Octal Bus Extension (OBE)的电子测试与设备识别标准。它是由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的，旨在为新一代高速数字IC（Integrated Circuits）提供更强大和灵活的测试与诊断功能。

IEEE 1149.6于2003年首次发布，作为JTAG（Joint Test Action Group）标准的扩展，它定义了一种新的测试架构，能够有效地应对高速传输和复杂性方面的挑战。相比于传统的JTAG测试，IEEE 1149.6更适用于现代集成电路设计中的差分信号和高速总线。

IEEE 1149.6的主要特点之一是引入了新的测试信号和测试节点。它使用了差分信号传输、均衡和预驱动技术，以提高测试信号的准确性和可靠性。此外，IEEE 1149.6还引入了新的控制寄存器和延迟对齐机制，以优化测试流程和信号完整性。

IEEE 1149.6还具有灵活性和可扩展性。它支持多波束和多级级联测试架构，可以根据不同的测试需求进行配置。这样的设计使得IEEE 1149.6能够适应各种不同的集成电路设计，并提供高效的测试解决方案。

总的来说，IEEE 1149.6是一项为新一代高速数字IC测试设计的标准。它引入了新的测试信号和节点，以提高测试的准确性和可靠性。同时，它还具备灵活性和可扩展性，能够适应各种不同的集成电路设计需求。通过采用IEEE 1149.6，可以更好地测试和诊断现代高速数字IC。