stm32f4的过采样

### STM32F4 过采样实现方法

#### 1. 过采样的概念
过采样是指通过增加采样频率并随后对多个样本求平均来提高模数转换器(ADC)的有效分辨率的技术。这种方法可以有效减少量化噪声，从而提升信号质量。

对于STM32F4系列微控制器而言，在硬件层面并不直接支持过采样功能；但是可以通过软件方式轻松实现这一特性[^1]。

#### 2. 软件实现过采样的方法

##### 使用DMA传输数据至缓冲区
为了高效地收集大量样本用于后续处理，推荐采用DMA方式进行连续采集操作。具体来说就是设置好相应的寄存器参数之后启动一次性的多通道扫描模式，并让DMA负责搬运这些来自不同输入端口的数据到预先分配好的内存空间内等待进一步分析。

// 初始化 DMA 和 ADC 配置...
HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1, (uint32_t*)aBuffer, BUFFER_SIZE);

##### 对多次测量取均值
当接收到足够的读数后（即完成了预期次数的采样），就可以关闭DMA请求并将所有获得的结果累加起来再除以总数量得到最终输出值：

float sum = 0;
for(int i=0; i<BUFFER_SIZE; ++i){
    sum += aBuffer[i];
}
averageValue = sum / BUFFER_SIZE;

上述过程实际上就是在执行最基本的过采样算法——简单算术平均法。当然也可以考虑更复杂的滤波策略如移动窗口平均等来改善性能表现[^2]。

#### 3. 设置合适的采样时间和时钟源
考虑到过采样会显著增加总的采样量级，因此合理规划每一轮实际获取单个样本所需的时间就显得尤为重要了。通常情况下应该依据目标精度需求以及系统所能承受的最大负载情况综合考量而定。例如文中提到的选择4分频下的工作频率为21MHz，则可据此推导出适合当前应用场景的最佳设定方案。