数字设计中后端工程师用什么工具进行ATPG的生成?是在哪个环节前?在哪个环节后?
时间: 2024-04-28 08:25:19 浏览: 8
数字设计中后端工程师通常使用工具来生成ATPG(自动测试程序生成),常用的工具有Tetramax、Fastscan和DFTAdvisor等。ATPG的生成通常是在设计完成后进行的,即在后端设计的“设计验证”阶段进行。ATPG的生成目的是为了生成测试程序,用于验证设计的正确性,通常是在设计完成后,但在芯片生产之前进行。生成的测试程序将用于在芯片制造过程中对芯片进行测试。
相关问题
数字设计中,atpg的生成主要有哪些工具?可以在genus中实现吗?
数字设计中,ATPG(自动测试程序生成)的生成主要有以下几个工具:
1. TetraMAX:由Synopsys公司开发的ATPG工具,适用于大规模芯片设计。
2. Fastscan:由Mentor Graphics公司开发的ATPG工具,适用于中小规模芯片设计。
3. TestKompress:由Mentor Graphics公司开发的ATPG工具,主要用于压缩测试程序尺寸和测试时间。
4. DFTMAX:由Synopsys公司开发的ATPG工具,主要用于设计级别的故障模拟和测试覆盖率评估。
以上ATPG工具都可以在Genus中实现,通过Genus中的set_atpg_mode、set_atpg_fault_model、set_atpg_algorithm等命令,可以配置ATPG模式、故障模型和算法等参数,然后使用run_atpg命令执行ATPG流程,生成测试程序。同时,Genus还支持与第三方ATPG工具的集成,比如与TetraMAX、Fastscan等进行集成,以实现更加高效和精确的ATPG。
数字设计中DFT在数字后端部分的流程示意
数字设计中DFT(Design for Testability)是一种测试性设计技术,在数字后端部分主要包括以下流程:
1. 插入扫描链:在设计RTL(Register Transfer Level)时,将扫描链插入到设计中以便测试器可以通过扫描链来测试芯片。
2. 生成测试模式:通过扫描链和模式生成器来生成测试模式,测试模式可以用于测试芯片的逻辑电路、存储器和I/O接口等。
3. 插入BIST:在设计中插入BIST(Built-In Self-Test)电路,以便在芯片制造和测试过程中对芯片进行自检测。
4. 生成BIST测试程序:通过BIST控制器和测试程序生成器来生成BIST测试程序,测试程序可以用于测试芯片的存储器和逻辑电路等。
5. 插入ATPG:在设计中插入ATPG(Automatic Test Pattern Generation)电路,以便自动生成测试模式。
6. 生成ATPG测试模式:通过ATPG控制器和测试模式生成器来生成ATPG测试模式,测试模式可以用于测试芯片的逻辑电路和存储器等。
通过以上流程可以实现数字设计中的DFT技术,在芯片制造和测试过程中提高芯片的可靠性和降低成本。