我现在正在用Keil5进行单片机程序编写，遇到了一些问题。我想通过平均采样率算法来对stm32接收到的正弦波进行幅值检测。我大概掌握了ADC检测原理，但是现在想将ADC在各个采样点检测到的数据收集起来，利用平均采样率原理来进行计算，得到正弦波的幅值并输出。那现在我该怎么编写主函数呢，能不能给我一个代码并附上详细的注释

GPIOB->ODR &= ~(1 << 6); // SCL拉低
GPIOB->MODER &= ~(3 << (好的，我可以为您提供一个示例程序，该程序可以对 STM32 的 ADC 进行采样，并使用平7*2)); // PB7设置为输出模式
GPIOB->MODER |= 1 << (7*2);
for均采样率算法计算正弦波的幅值。以下是主要代码和注释。

#include "stm(int i = 0; i < 8; i++)
{
    GPIOB->ODR |= 1 << 6; // S32f10x.h"

#define SAMPLES 1000 // 定义采样点数
#define ADC1_DR_Address    ((u32CL拉高
    data <<= 1;
    if(GPIOB->IDR & (1 << 7))
        data |= 0)0x4001244C) // 定义ADC1数据寄存器地址

uint16_t ADC_ConvertedValue[SAMPLESx01;
    GPIOB->ODR &= ~(1 << 6); // SCL拉低
}
GPIOB->MODER &=]; // 定义一个数组，用于存储 ADC 采样的数据

int main(void)
{
    // 初始化 ADC
    ~(3 << (7*2)); // PB7设置为输入模式
GPIOB->PUPDR |= 2 << (7 ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure;
    ADC_InitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;
    ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE*2);    // PB7设置为下拉

需要注意的是，模拟I2C的速度比硬件I2C慢，需要根据具体情况进行优化。