在VLSI设计中，如何通过逻辑BIST技术提升测试模式生成的故障覆盖率？请结合具体的测试架构来说明。

在VLSI设计中，利用逻辑BIST技术提升测试模式生成的故障覆盖率是一个关键目标。为了帮助你更好地理解和应用这一技术，推荐查看《逻辑内置自测试（BIST）原理与架构》这一资料。在这份资料中，你可以找到关于逻辑BIST设计的详尽介绍，以及如何通过不同的测试架构来提高故障覆盖率的深入分析。

参考资源链接：[逻辑内置自测试（BIST）原理与架构](https://wenku.csdn.net/doc/6oxyomx5e2?spm=1055.2569.3001.10343)

故障覆盖率是衡量测试能力的关键指标之一，它表示在所有可能的故障中，能够被当前测试集检测到的比例。提升故障覆盖率通常需要一个精心设计的测试模式生成策略。在逻辑BIST架构中，一个有效的测试模式生成策略是使用伪随机测试序列生成器，如线性反馈移位寄存器（LFSR）。LFSR能够生成大量的测试向量，覆盖到更广泛的故障空间。

具体的测试架构中，为了提升故障覆盖率，可以集成扫描链技术，将多个扫描链并行地配置在芯片的不同部分，这样可以同时测试多个电路区域。同时，通过增加测试点和冗余逻辑，可以在设计阶段就确保故障更容易被检测到。

另外，采用基于故障的测试（Fault-based Testing）方法可以进一步增强测试模式的有效性。这种方法通过分析电路的故障模型来生成测试向量，专门针对潜在故障进行设计，从而提升故障覆盖率。

除了测试模式生成策略，故障诊断和分析也是提升故障覆盖率的重要环节。通过集成高性能的故障分析硬件和算法，例如使用故障字典法或比较测试响应技术，可以在测试过程中快速准确地识别故障。

总而言之，逻辑BIST通过集成到芯片设计中的测试结构和策略，能够有效地提升故障覆盖率，确保VLSI产品在设计和制造过程中的高可靠性。对于想要深入研究和实践逻辑BIST技术的工程师来说，《逻辑内置自测试（BIST）原理与架构》是一份宝贵的资源，它不仅提供了BIST的基本知识，还详细介绍了如何通过架构设计和测试策略来优化故障覆盖率。

参考资源链接：[逻辑内置自测试（BIST）原理与架构](https://wenku.csdn.net/doc/6oxyomx5e2?spm=1055.2569.3001.10343)