VLSI测试详解：施加图形步骤与电路初始化

在《施加测试图形的步骤-国科大-模式识别-2018期末试题》中，主要讨论的是针对大规模集成电路（VLSI）的测试方法，特别是在设计和验证过程中施加测试图形的详细步骤。VLSI，即Very Large Scale Integrated Circuit，指的是大规模集成电路技术，它将大量的电子元件集成在微小的硅片上，是现代电子设备的核心。 该文档首先介绍了施加测试图形的基本步骤，包括先通过全0和全1图形来检查触发器的功能，这是为了确保电路的正常启动和基本逻辑状态。接下来，测试过程涉及组合电路G1和G2，例如，使用测试图形FY1Y2 = (000)，在这个阶段，测试信号会在特定条件下（SE=1, SI=0）施加，并伴随着时钟脉冲的控制，以观察电路的正确响应。 测试过程分为初始化和非初始化阶段。初始化时，电路会经历一系列精心安排的图形序列，如串行输入FY1Y2，确保触发器和组合电路处于正确的状态，以便接收到后续的测试信号。当到达最后一组测试图形时，由于电路已经稳定，无需重新初始化，所以只需要简单地施加信号F。 此外，文档还提到了VLSI测试中的关键概念，如专用可测性设计、扫描和边界扫描理论、IDDQ测试（Intrinsic Diagnostic Density Qualification Test）、随机和伪随机测试方法，以及测试生成电路结构与M序列测试的关系。这些技术对于确保VLSI产品的质量和可靠性至关重要。 书中还涵盖了内建自测试（Built-in Self-Test, BIST）的概念，这是一种在芯片内部进行自我诊断的技术，用于检测硬件故障。另外，讨论了数据压缩结构和压缩关系在VLSI测试中的应用，以及Memory和System-on-Chip（SoC）等复杂系统级别的可测性设计方法。 《VLSI测试方法学和可测性设计》是一本深入讲解VLSI测试技术和设计的书籍，不仅适用于集成电路设计、制造、测试的专业人员，也适合高等教育中的高级学生和研究生作为教材使用。这本书强调了测试在集成电路生命周期中的重要性，并提供了实用的理论和技术指导。