M-DEMA攻击：高效破解DES密码芯片的方法

"一种针对DES密码芯片的M-DEMA攻击方法 (2013年)，由柏代军、范黎恒和余浩发表在《Ordnance Industry Automation》2013年第2期，探讨了如何利用多比特差分电磁分析（M-DEMA）进行密码芯片的电磁旁路攻击，尤其是对DES微控制器（AT89C52）密码系统的攻击。" 文章主要介绍了密码安全领域中的一个重要议题，即通过分析电磁辐射来窃取密码芯片中的秘密信息。作者首先阐述了CMOS（互补金属氧化物半导体）电路在工作时产生的直接电磁辐射现象，这是电磁旁路攻击的基础。CMOS电路在处理数据时，由于电流变化会产生电磁辐射，这些辐射可以被外界探测到，从而可能泄露敏感信息。 接着，文章详细介绍了M-DEMA攻击方法，这是一种扩展了传统差分电磁分析（DEMA）的技术。DEMA通常用于比较不同输入条件下芯片的电磁辐射差异，以推断内部计算过程。而M-DEMA则进一步考虑了多个比特的差异，增强了攻击的精度和效率。这种方法的关键在于收集和分析更精细的电磁辐射信号，以减少所需的样本数量，从而更快地恢复DES（数据加密标准）密码芯片的密钥。 在实验部分，作者构建了一个专门用于采集和分析DES系统近场电磁辐射信号的平台。通过对该系统进行M-DEMA攻击实验，他们证明了新方法的有效性。实验结果显示，相比于传统的DEMA，M-DEMA不仅能够更高效地恢复DES密钥，而且提高了攻击成功率，降低了攻击的复杂性和成本。 关键词包括：密码芯片、差分电磁分析、近场、电磁辐射和数据加密标准。这篇文章属于工程技术类别，具有较高的学术价值，对密码安全研究和硬件安全防护有着重要的参考意义。中图分类号为TJ02，文献标志码为A，表明其在军事科技领域具有一定的理论和技术贡献。