优化组合电路测试策略：VLSI可测性设计详解

本资源是一份关于组合电路的学术题目，出自于2018年国科大的模式识别期末试题，主要探讨的是VLSI（Very Large Scale Integration，大规模集成电路）领域的知识。题目涉及一组合电路的设计和分析，其中关键点在于如何通过优化输入概率来提高电路的性能。 首先，电路由四个元件组成，需要根据定理8.2来确定第四个元件的最佳输入概率值。利用公式2^3 * p1 * p2 * p3 = 0.5，这里的p1、p2和p3是各个元件的概率，目标是最大化电路的整体效率。接着，对于元件2和元件3，通过式（8.11）和式（8.12）分别计算了它们在不同状态下的概率，以及与第四个元件的联合概率。通过这些计算，表格8.2给出了各节点的概率分布，这些概率值对于优化电路性能至关重要。 电路中每个原始输入的优化概率是各节点概率的平均值，例如，第一个输入的优化概率为0.397。然后，针对电路中的故障检测率，如故障2，使用等概率随机测试法计算得到的检测率为0.078。同时，还提到了优化概率分布下测试图形的长度，与非优化情况相比，优化可以减少测试时间。 整个过程涉及到了线性优化问题，即寻找输入变量的最佳概率分布，这是一个复杂的问题，对于理解电路性能优化具有重要意义。该题目展示了在VLSI设计中，如何结合数学模型和理论来优化电路的可靠性和测试效率，这对于VLSI测试方法学和可测性设计的学习者来说，是一项实用且理论性强的技术。 VLSI测试方法学和可测性设计是一个广泛的主题，涵盖了数字电路的描述、模拟、组合电路和时序电路的测试策略、专用可测性设计、扫描和边界扫描、IDDQ测试、随机和伪随机测试等多个方面。作者雷绍充、邵志标和梁峰所著的教材深入浅出地介绍了这些内容，旨在为从事VLSI设计、制造、测试的专业人员提供全面的指导，并作为高校高年级学生的教材使用。该书籍不仅关注理论，还强调了实际应用，对于理解集成电路的复杂测试流程和优化策略非常有价值。