启发式方法优化简单电路测试用例：99%减少实例

本文探讨了"启发式方法在优化简单电路测试用例数量中的应用"，发表在《国际微电子设计与通信系统杂志》(International Journal of VLSI Design & Communication Systems, Vol.1, No.3, September 2010)上，DOI:10.5121/vlsic.2010.130213。作者SM. Thamarai、K.K. Kuppusamy和T. Meyyappan分别来自阿尔加帕大学计算机科学与工程系，他们针对两级电子电路提出了一个新的测试策略。 研究的核心目标是通过减少冗余测试来简化电路验证过程，即找出给定电路中最多可能存在的无法区分的故障。这种方法的精髓在于启发式测试最小化（Test Minimization），它从整体测试用例中筛选出关键测试，以此为基础来降低测试执行的次数。研究发现，这种方法能够显著降低测试用例数量，从50%减少到高达99%，特别是对于只有四个门的电路，最小化的程度更为明显。 值得注意的是，测试最小化的效果受电路结构的影响，例如，门中输入引线较少的电路相较于门中较大输入引线的电路，其测试最小化程度相对较低。此外，研究还表明，这种方法不仅减少了测试集的大小，而且能有效降低CPU时间消耗，这对于资源有限的硬件环境来说具有显著的优势。 这项研究提供了一种高效且有针对性的电路测试方法，对于简化电路设计验证流程，提高测试效率具有重要的实践价值。对于那些关心电路可靠性验证和测试成本控制的工程师和研究人员来说，这一研究成果具有很高的参考价值。