基于PXI的自动化测试系统构建与LabVIEW应用

"NIDays2011电子产品测试应用资源包基于PXI构建完整自动化测试系统_Handson" 本资源详细介绍了如何利用国家仪器（National Instruments, NI）的PXI平台构建一个完整的自动化测试系统。PXI（PCI eXtensions for Instrumentation）是一种模块化、高性能的测试平台，广泛应用于电子产品的测试和测量。 首先，自动化测试系统通常由五层架构构成，包括处理总线平台、模块化I/O与仪器控制、系统服务与驱动、测试开发软件和测试管理软件。在这个系统中，PXI作为处理总线平台，承载着模块化I/O设备，如示波器（NI-SCOPE）、函数发生器（NI-FGEN）、数字多用表（NI-DMM）以及开关控制器（NI-SWITCH）等，这些设备通过MAX（Measurement & Automation Explorer）进行管理和配置。 在硬件组成方面，资源提到了NIPXI-5122数字化仪，这是一款14位分辨率的模块化仪器，适用于高精度的信号采集和分析。在软件层面，LabVIEW是主要的开发工具，用于编写测试程序和图形化用户界面；而TestStand则作为测试管理软件，负责测试序列的执行和结果报告。 通过LabVIEW，可以实现频率扫描测试模块，设置从500Hz到50kHz的扫频，并在图表上显示正弦波形，同时测量信号的频率响应。此外，通过开关路由功能，可以实现多对象测试，进行阻值测量，以及优化并行测试的自动排程，高效地管理测试流程并生成测试报告。 动手练习部分引导用户使用LabVIEW2010环境，模拟实际操作，用任意波形发生器输出信号，然后通过数字化仪采集并进行谱分析，以40分钟的时间来理解和实践扫频测试的基本功能。 该资源包为工程师和测试人员提供了从理论到实践的全面指导，帮助他们利用PXI平台和NI工具构建高效、自动化的电子产品测试系统。