ARM JTAG调试详解：接口、协议与实践

本文档深入探讨了ARM架构下的JTAG调试技术，由施金前编著，提供了详细的指南和技术解析。JTAG（Joint Test Action Group）是一种标准接口，用于在系统级对嵌入式处理器进行调试。文档主要分为以下几个部分： 1. **概述**：介绍了JTAG调试的基本概念，包括其在ARM系统中的作用，以及它如何帮助开发者进行硬件调试和芯片级编程。 2. **NandFlash知识**：这部分详细讲解了NandFlash的存储结构、寻址方式、管脚功能以及支持的命令和操作时序。这对于理解和使用JTAG与NandFlash交互至关重要。 3. **JTAG协议**：深入解析了JTAG协议的工作原理，包括边界扫描、测试访问端口(TAP)、指令寄存器和数据寄存器等关键组件。同时，还涉及到了边界扫描链和BSDL文件的使用。 4. **并口（UART）**：讨论了并口的历史、管脚配置、数据和控制寄存器的作用，以及如何在虚拟机上安装并口设备。此外，还提供了Linux环境下并口编程的方法和注意事项。 5. **Window下的JTAG开发**：针对Windows环境，讲述了如何获取IO端口控制权、操作API以及选择合适的并口端口号。 6. **源码说明**：解释了源代码结构和开发过程中可能遇到的问题及解决方案，例如检测不到硬件、烧写错误、读取Flash问题以及不同平台间的并口速度差异。 7. **问题与解决方案**：列举了开发者在实践中可能遇到的具体问题及其解决方法，有助于读者在实际应用中排除故障。 8. **参考文献**：提供相关的研究资料和资源，便于进一步学习和深入研究。 通过阅读这份文档，读者将能够掌握ARM架构下利用JTAG进行硬件调试的基础知识，了解并口在JTAG调试中的作用，并学会如何在不同的操作系统环境下进行有效的开发和调试。这对于从事ARM嵌入式系统开发的工程师来说是一份宝贵的参考资料。