ATE测试仪器仪表：开关功能与系统设计的关键

"本文主要探讨了ATE测试仪器仪表的系统设计，强调了开关功能的重要性，尤其是在面对日益复杂的待测器件（DUT）时。随着DUT的通道/引脚数量和功能增加，测试需求也在增长，这使得测试速度成为ATE的关键指标。文中还提到了ATE测试系统的高级别方框图，以及在器件接口板（DIB）上的辅助开关功能。此外，文章还对比了固态开关、EMR开关和MEMS开关的特点，并重点介绍了ADI的MEMS开关技术，突出其在尺寸、性能和使用寿命上的优势。" 在ATE测试仪器仪表的设计中，开关功能扮演着核心角色。随着电子设备的复杂性不断提升，每个器件需要进行的测试项目数量显著增加。为了满足这种需求，ATE必须具备高速测试的能力，以提高生产效率。图1展示了一个典型的ATE测试系统，其中包含了连接到DUT的专用开关，这些开关有助于实现高效的测试流程。 测试设备外部，如DIB或TIU，也需要额外的开关功能来处理待测器件的交流/射频（ac/RF）测试。图2展示了这种设置，其中包含信号滤波、放大和校准路径，确保测试系统的性能优化，降低噪声并减少PCB损耗。 在选择开关类型时，需考虑信号类型和性能要求。固态开关广泛应用于ATE测试设备，但在处理直流（dc）、脉冲多路复用器（PMU）信号以及高速数字/RF信号时，电磁继电器（EMR）开关仍然是必要的。然而，EMR开关存在体积大、响应速度慢、寿命有限等缺点，对PCB布局和返工带来挑战。 MEMS（微机电系统）开关作为一种创新技术，如ADI的ADGM1304，结合了EMR的优点，同时在尺寸、RF性能和使用寿命上有所提升。相较于传统的EMR开关，MEMS开关的体积显著减小，如图3所示，可以实现更高的集成度和更多的通道数。这种技术的进步为ATE测试设备的微型化和性能增强提供了新的可能性。 总结来说，ATE测试系统的设计需要综合考虑开关的选择、系统的灵活性和测试速度。随着MEMS技术的发展，开关的性能和集成度得到大幅提升，为ATE测试提供了更高效、紧凑的解决方案，以应对不断进化的电子设备测试需求。