STM32 F103 SRAM用Keil MDK 3.5 Jlink V7高效调试教程

本文主要介绍了如何在Keil MDK 3.5版本的JLink V7工具配合STM32微控制器（以STM32F103RBT6为例）进行SRAM调试，以避免频繁擦写FLASH导致的寿命损耗和学习过程中的误操作。以下是详细步骤： 1. **环境准备**： - 将Keil MDK 3.5安装目录下的STLIB_Blinky中的RAM.ini文件复制到项目目录，以便为SRAM调试提供配置模板。 2. **项目配置**： - 在GPIO_OUT项目中，新建一个名为"SRAM"的目标，并将其选为调试目标。 - 在"Options for Target"中，设置IROM1和IRAM1的起始地址和大小，将大部分空间分配给Flash（0x20000000-0x20004000）,剩余部分（0x20004000-0x20005000）作为SRAM。 3. **生成可执行文件**： - 在Output选项卡中，确保勾选"Create HEX File"，以便于后续下载程序。 4. **调试设置**： - 在Debug选项中，选择Cortex-M3 J-Link作为调试器。设置Initialization File为刚复制的RAM.ini文件，取消"Load Application at Startup"，以防止覆盖Flash数据。 - 在FlashDownload部分，选择"DonotErase"，表示不自动擦除Flash，设置RAM区域的起始地址和大小。 - 对于编程算法，如果没有STM32F10x Med-density Flash，需添加并配置其地址和大小。 5. **连接与调试**： - 选择USB接口作为调试器连接方式，确保JLink V7正确连接STM32设备。 - 在设置界面中，根据上述配置调整参数后点击OK，完成调试配置。 通过这些步骤，用户可以有效地利用Keil MDK 3.5和JLink V7进行STM32的SRAM调试，同时保护了Flash资源，提高了开发效率和MCU的使用寿命。此方法适用于初学者或需要频繁进行内存操作的开发者，确保了程序在内存中的正常运行和调试过程的顺利进行。