线阵扫描AOI系统关键技术研究:从精密调校到并行处理
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更新于2024-08-07
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"本文主要研究基于线阵扫描的自动光学检测(AOI)系统的关键技术,涉及光机系统精密调校、精密运动控制、图像采集系统优化以及大容量图像数据处理优化等多个方面。"
线阵扫描自动光学检测系统是工业检测领域的重要工具,尤其在半导体、电子制造等行业中用于检测产品的缺陷。本文主要研究了以下几个关键知识点:
1. 光机系统精密调校技术:
- 基于线阵相机的成像模型,通过图像处理提取调校参数,建立参数变化与光机结构自由度变化的关系,实现了调校的实时可视化,解决了线阵AOI系统的光机调校难题。
- 对于多相机系统,进行了精密调校技术研究,以实现高精度的图像拼接。
2. 精密运动控制技术:
- 针对线阵系统的扫描同步和运动稳定性,通过实验研究滚轮传动和直线电机/伺服电机的运动控制,提高了系统的稳定性和分辨率。
3. 图像采集系统优化:
- 提升线阵相机的成像质量,对影响图像质量的关键技术进行研究,满足实际应用需求。
- 进行色彩与灰度的量化标定和校正,以实现高质量图像的还原。
4. 大容量图像数据处理优化技术:
- 针对大容量图像数据的处理,研究了并行处理技术,包括对采集带宽的设计、多核CPU并行处理、GPU并行处理,以及FPGA平台上的算法流程移植,以提高处理效率。
本文的结构安排如下:
- 第一章为绪论,介绍线阵扫描AOI技术的基本情况和研究重点。
- 后续章节分别详细阐述上述四个关键技术的研究内容和实现方法。
- 论文最后可能还包括实验结果分析、性能评估和结论。
这篇博士学位论文由陈镇龙在电子科技大学完成,指导教师为叶玉堂教授,属于光学工程专业。论文深入探讨了线阵扫描AOI系统中的核心技术,对于提高系统的检测精度和效率具有重要的理论与实践价值。
2021-09-11 上传
2023-03-22 上传
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