线阵扫描AOI系统关键技术研究：从精密调校到并行处理

"本文主要研究基于线阵扫描的自动光学检测(AOI)系统的关键技术，涉及光机系统精密调校、精密运动控制、图像采集系统优化以及大容量图像数据处理优化等多个方面。" 线阵扫描自动光学检测系统是工业检测领域的重要工具，尤其在半导体、电子制造等行业中用于检测产品的缺陷。本文主要研究了以下几个关键知识点： 1. 光机系统精密调校技术： - 基于线阵相机的成像模型，通过图像处理提取调校参数，建立参数变化与光机结构自由度变化的关系，实现了调校的实时可视化，解决了线阵AOI系统的光机调校难题。 - 对于多相机系统，进行了精密调校技术研究，以实现高精度的图像拼接。 2. 精密运动控制技术： - 针对线阵系统的扫描同步和运动稳定性，通过实验研究滚轮传动和直线电机/伺服电机的运动控制，提高了系统的稳定性和分辨率。 3. 图像采集系统优化： - 提升线阵相机的成像质量，对影响图像质量的关键技术进行研究，满足实际应用需求。 - 进行色彩与灰度的量化标定和校正，以实现高质量图像的还原。 4. 大容量图像数据处理优化技术： - 针对大容量图像数据的处理，研究了并行处理技术，包括对采集带宽的设计、多核CPU并行处理、GPU并行处理，以及FPGA平台上的算法流程移植，以提高处理效率。 本文的结构安排如下： - 第一章为绪论，介绍线阵扫描AOI技术的基本情况和研究重点。 - 后续章节分别详细阐述上述四个关键技术的研究内容和实现方法。 - 论文最后可能还包括实验结果分析、性能评估和结论。 这篇博士学位论文由陈镇龙在电子科技大学完成，指导教师为叶玉堂教授，属于光学工程专业。论文深入探讨了线阵扫描AOI系统中的核心技术，对于提高系统的检测精度和效率具有重要的理论与实践价值。