ATPG transition
时间: 2023-11-15 16:57:24 浏览: 39
ATPG transition是一种测试方法,用于检测数字电路中的故障。它通过在电路中注入故障并观察输出来检测故障。在ATPG transition中,测试模式是由测试生成器生成的,目的是使电路中的所有故障都能被检测到。然而,由于电路中存在时序问题,因此需要使用timing-aware ATPG来检测这些故障。与传统的transition fault ATPG相比,timing-aware ATPG需要更长的运行时间,并且可能会导致测试覆盖率降低。
相关问题
在跑ATPG transition故障时,为什么要在capture之前设置external_capture?
因为external_capture可以检测到ATPG transition故障,从而使模拟器能够捕获发生在transition之前的故障,这样才能确保ATPG transition故障能被正确检测到。
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Tessent EDT ATPG (自动测试程序生成)是一种专业的芯片测试解决方案。Tessent EDT ATPG 是迅捷先进公司推出的一套创新的测试生成工具,旨在帮助半导体芯片制造商更高效地进行芯片测试。Tessent EDT ATPG 可以有效地避免由于设计错误而导致的芯片故障,提高芯片测试的质量和效率。
Tessent EDT ATPG 的实施过程主要分为三个主要步骤。首先,需要创建一个测试模型,该模型描述了芯片的功能、输入和输出。然后,通过设置测试要求和约束条件,生成测试向量,用于模拟和测试芯片。最后,使用生成的测试向量,通过电子工具和测试平台对芯片进行测试和验证。这样,制造商可以及时发现和修复芯片中的错误,确保芯片的质量和可靠性。
Tessent EDT ATPG 的特点主要体现在以下几个方面:首先,它提供了一种高度灵活且易于使用的测试生成方法。不同类型的芯片可以使用不同的测试方法,以满足不同的测试需求。其次,它具有高效的测试向量生成能力,可以快速生成高覆盖率的测试向量。再次,它提供了全面的故障模型,可以针对不同类型的故障进行测试。最后,它支持多种测试平台和工具的集成,方便制造商进行芯片测试和验证。
总之,Tessent EDT ATPG 是一种专业的芯片测试解决方案,能够帮助半导体芯片制造商提高芯片测试的质量和效率。通过使用 Tessent EDT ATPG 可以有效地降低芯片故障的风险,并且加快芯片的上市时间,促进半导体产业的发展。