集成在芯片内的uart的唤醒GPIO需要引脚复用吗

是的，集成在芯片内的 UART 的唤醒 GPIO 需要进行引脚复用。引脚复用是为了将一个物理引脚用于多个功能。在某些芯片设计中，UART 的唤醒功能可能会与其他功能共享同一个引脚，因此需要进行引脚复用设置。这可以通过芯片的引脚复用功能进行配置，确保唤醒 GPIO 正确连接到 UART 模块。具体的引脚复用配置方法和支持的引脚复用功能可能因芯片型号而异，请参考芯片的相关文档或手册获取详细信息。

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如何在STM32F407上配置UART6的GPIO引脚？

在STM32F407微控制器上配置UART6的GPIO引脚，首先需要了解STM32F407的引脚复用功能，因为UART6使用的引脚同时也是其他外设的引脚。配置步骤一般包括以下几个方面：

1. 初始化时钟：确保为GPIO端口和UART6外设开启时钟。通常，这意味着需要配置RCC（Reset and Clock Control）相关寄存器，开启GPIOG和UART6的时钟。

2. 配置GPIO引脚模式：根据需求，将GPIOG上的特定引脚（比如PG14作为UART6_TX和PG9作为UART6_RX）配置为复用功能模式，并设置为复用开漏输出，上拉/下拉等，以便它们可以与UART6外设接口。

3. 配置UART6：设置UART6的波特率、数据位、停止位、校验位等参数。这通常涉及到UART6相关的CR1、CR2、BRR等寄存器的配置。

4. 使能UART6：确保UART6外设被正确使能，这样才能进行数据的发送和接收。

一个粗略的代码示例可能如下（使用HAL库函数）：

/* 开启GPIOG和UART6时钟 */
__HAL_RCC_GPIOG_CLK_ENABLE();
__HAL_RCC_UART6_CLK_ENABLE();

/* 配置PG14为UART6_TX，PG9为UART6_RX */
GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStruct = {0};
GPIO_InitStruct.Pin = GPIO_PIN_14 | GPIO_PIN_9;
GPIO_InitStruct.Mode = GPIO_MODE_AF_PP;
GPIO_InitStruct.Pull = GPIO_NOPULL;
GPIO_InitStruct.Speed = GPIO_SPEED_FREQ_VERY_HIGH;
GPIO_InitStruct.Alternate = GPIO_AF8_UART6;
HAL_GPIO_Init(GPIOG, &GPIO_InitStruct);

/* 配置UART6 */
UART_HandleTypeDef huart6;
huart6.Instance = UART6;
huart6.Init.BaudRate = 9600; // 设置波特率
huart6.Init.WordLength = UART_WORDLENGTH_8B; // 数据位设置为8位
huart6.Init.StopBits = UART_STOPBITS_1; // 1个停止位
huart6.Init.Parity = UART_PARITY_NONE; // 无奇偶校验位
huart6.Init.Mode = UART_MODE_TX_RX; // 设置为发送和接收模式
huart6.Init.HwFlowCtl = UART_HWCONTROL_NONE; // 无硬件流控制
huart6.Init.OverSampling = UART_OVERSAMPLING_16; // 16倍过采样
HAL_UART_Init(&huart6);

/* 使能UART6 */
HAL_UART_Receive_IT(&huart6, rxBuffer, bufferSize); // 开启接收中断，假定rxBuffer是接收缓冲区

在实际应用中，你需要根据具体的硬件设计和软件需求来调整上述代码，例如设置正确的波特率和引脚复用映射等。

AM8001系列的FT function项中CRC、GPIO、TWI、UART、GPTM、MCTM测试项是合在一起的，需要通过BOOTLOADER测试模式从外部的nor flash搬运到芯片内部的SRM进行测试，搬运的过程间接测试了SPI测试项。（目前由于进入测试模式会拉低内部VDD电压，导致通过测试模式的方式程序跑不到144M，暂时以96M跑通测试）TK测试项和ADC测试项，由于引脚数量紧张，引脚复用以及外部测试条件等不可控因素，无法跟GPIO、TWI、UART等测试项合在一起统一测试，需要单独运行测试pattern。

AM8001系列的FT function项中，CRC、GPIO、TWI、UART、GPTM、MCTM测试项是合在一起的，通过BOOTLOADER测试模式从外部的nor flash搬运到芯片内部的SRM进行测试。这个过程间接测试了SPI测试项。不过目前由于进入测试模式会拉低内部VDD电压，导致通过测试模式的方式程序跑不到144M，所以只能以96M跑通测试。

而TK测试项和ADC测试项，由于引脚数量紧张，引脚复用以及外部测试条件等不可控因素，无法跟GPIO、TWI、UART等测试项合在一起统一测试，需要单独运行测试pattern。