void EXTI0_IRQHandler(void) { // 判断按键状态，如果长按了Src Key，而且当前不在测试状态中，进入测试状态 if (HAL_GPIO_ReadPin(SRC_KEY_GPIO_Port, SRC_KEY_Pin) == GPIO_PIN_RESET && !is_testing) { is_testing = true; HAL_Delay(1000); // 延时1s，防止误触发 if (HAL_GPIO_ReadPin(SRC_KEY_GPIO_Port, SRC_KEY_Pin) == GPIO_PIN_RESET) { // 进入测试状态 testing_type = get_testing_type(); // 获取测试类型 enter_testing_mode(testing_type); // 进入测试模式 } else { is_testing = false; } } // 如果在测试状态中，根据测试类型进行相应处理 if (is_testing) { switch (testing_type) { case TESTING_TYPE_A: // 处理测试A break; case TESTING_TYPE_B: // 处理测试B break; default: break; } } // 如果退出测试，回到正常状态 if (HAL_GPIO_ReadPin(SRC_KEY_GPIO_Port, SRC_KEY_Pin) == GPIO_PIN_SET && is_testing) { is_testing = false; exit_testing_mode(testing_type); // 退出测试模式 } }

这段代码的作用是对 `Src Key` 按钮的中断进行处理。具体来说，当检测到 `Src Key` 按钮被长按，并且当前不在测试状态中时，会进入测试状态，进行相应的测试；当检测到 `Src Key` 按钮被松开，并且当前处于测试状态时，会退出测试状态，回到正常状态。

在代码实现中，使用了 `HAL_GPIO_ReadPin()` 函数来读取 `Src Key` 按钮的状态，使用了 `HAL_Delay()` 函数进行延时，避免误触发。同时，在进入测试状态时，调用了 `get_testing_type()` 函数来获取测试类型，调用了 `enter_testing_mode()` 函数进入测试模式，在退出测试状态时，调用了 `exit_testing_mode()` 函数退出测试模式。

需要注意的是，本段代码中的 `is_testing` 和 `testing_type` 都是全局变量，需要在其他地方进行声明和定义。同时，`TESTING_TYPE_A` 和 `TESTING_TYPE_B` 都是枚举类型，需要在代码中进行定义。