"本书主要关注VLSI设计中的静态时序分析,它是数字设计师确保半导体芯片性能的关键。书中深入探讨了如何描述和验证时序,特别是对于纳米级设计的时序验证。作者基于在复杂纳米设计时序验证领域的多年工作经验,针对初学者和专业人士提供了关于静态时序分析的综合参考。内容涵盖了门级时序、互连、时序计算、串扰等对纳米设计时序有影响的主题,以及库单元时序信息的存储和综合工具、静态时序分析工具用于计算和验证时序的方式。此外,还讨论了CMOS逻辑门、时序弧、摆幅、单元电容、时序建模、互连寄生和耦合、预布局和后布局互连建模、延迟计算、内部路径和IO接口的时序约束规格等高级概念。书中详细介绍了如何进行简单的块验证,然后扩展到复杂的纳米设计,涉及片上变化建模、时钟门控、半周期和多周期路径、假路径,以及源同步IO接口如DDR内存接口的时序分析。还涵盖了多模式多角分析、电源管理以及统计时序分析。附录包含了SDC、SDF和SPEF格式的全面介绍,这些都是静态时序分析的标准格式。这本书面向芯片设计领域、ASIC时序验证的专业人士,以及专注于逻辑和芯片设计的研究生,提供易于理解的解释、图示和详细的时序报告。" 《Static Timing Analysis in VLSI Design》是一本旨在为初学者和专业工程师提供静态时序分析全面指导的著作。随着数字设计复杂性的增加和各个设计阶段对时序测量的需求,静态时序分析变得至关重要。它在每个设计阶段都用来评估系统性能,并据此优化设计。书中重点关注了静态时序分析中的三个关键问题:假路径、多周期路径和层次化时序分析。假路径和多周期路径的处理对于产生准确的时序至关重要。以前的研究工作主要集中在这些方面,但本书通过深入研究和实例解析,提供了更全面的理解和解决方案。 书中不仅讲解了基本理论背景,还包括了利用静态时序分析进行深度时序验证的方法。作者强调了库单元中时序信息的重要性,这些信息被综合工具和静态时序分析工具用来计算和验证时序。此外,还探讨了如何处理噪声模型、复合电流源(CCS)时序和电源建模,包括活动和漏电流,以及串扰对时序和噪声的影响。 在实际应用中,本书详细阐述了如何设置时序分析环境,进行各种情况下的时序分析,以及如何执行时序检查。书中提供的实例场景有助于清晰地展示概念。还介绍了多层次设计方法在全芯片和层次化构建块时序验证中的应用。最后,多模多角分析和统计时序分析等内容拓宽了读者对时序分析的理解。 《Static Timing Analysis in VLSI Design》是从事芯片设计和时序验证的专业人士不可或缺的参考书,它提供了丰富的知识和实践指导,帮助读者掌握静态时序分析的各个方面,以应对纳米级别设计的挑战。
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