c++ opencv 电子元器件 缺陷检测 代码

电子元器件缺陷检测是一个广泛应用的领域，OpenCV可以帮助我们实现这个任务。下面是一个基本的C++ OpenCV电子元器件缺陷检测代码示例，供您参考：

#include <opencv2/opencv.hpp>
#include <iostream>

using namespace cv;
using namespace std;

int main()
{
    Mat image = imread("component.jpg"); // 读取图片

    if (image.empty()) // 判断是否读取成功
    {
        cout << "读取图片失败" << endl;
        return -1;
    }

    Mat gray, binary;
    cvtColor(image, gray, COLOR_BGR2GRAY); // 转为灰度图像
    threshold(gray, binary, 0, 255, THRESH_BINARY | THRESH_OTSU); // 二值化

    Mat kernel = getStructuringElement(MORPH_RECT, Size(3, 3)); // 定义结构元素
    morphologyEx(binary, binary, MORPH_OPEN, kernel); // 开运算去噪声

    vector<vector<Point>> contours;
    findContours(binary, contours, RETR_EXTERNAL, CHAIN_APPROX_SIMPLE); // 寻找轮廓

    for (int i = 0; i < contours.size(); i++)
    {
        Rect rect = boundingRect(contours[i]); // 获取轮廓的外接矩形

        if (rect.width > 10 && rect.height > 10) // 过滤掉小的轮廓
        {
            rectangle(image, rect, Scalar(0, 0, 255), 2); // 在原图上画出缺陷矩形
        }
    }

    namedWindow("component", WINDOW_NORMAL); // 创建窗口
    imshow("component", image); // 显示图片
    waitKey();
    return 0;
}

以上代码实现了读取图片，灰度化，二值化，去噪声，轮廓提取，缺陷检测矩形绘制，显示图片等功能。您可以根据自己的需求对代码进行修改和优化。