斯坦福-比奈智力测验：第四版大学生缩表评估

本文是一篇来自University of South Carolina的学术论文，标题为《斯坦福-比奈智力量表验证：第四版缩写电池与大学生》。作者Richard J. Nagle和Nancy L. Bell针对斯坦福-比奈智力测验（Stanford-Binet Intelligence Scale, 第四版，简称SB:IV）的缩写版在大学学生群体中的适用性进行了深入研究。该研究主要关注的是教育规划和咨询环境中，当需要能力评估时，这些简化的测试版本是否合适。 论文的核心内容围绕对4种不同的SB:IV缩写电池进行评估。这4个电池包括SF2（词汇与模式分析），SF4（SF2加上珠子记忆和定量能力），SF6a（SF4加上句子记忆和理解），以及SFCb（SF4加上数字记忆和理解）。研究对象是38名大学生，他们首先接受了完整的SB:IV测试，然后根据测试手册的指示，从完整测试中提取出这些缩写版的分数。 研究结果显示，所有四个简化的测试形式（即SF2、SF4、SF6a和SFCb）的得分显著低于完整测验的复合智商（Composite SAS）。此外，论文还探讨了完整测试与这些缩写版之间的相关性，以确定它们在测量个体智力水平上的可靠性和一致性。 这项研究的重要性在于它提供了关于在资源有限或时间紧迫的情况下，如何有效地运用斯坦福-比奈智力测验第四版的简化版本，以满足教育和咨询服务中对学生智力评估的需求。它对于教师、心理咨询师和教育政策制定者来说，具有实际的指导意义，因为它们可能需要快速、准确地判断学生的认知能力，同时也要确保评估结果的信度和效度。通过比较缩写版与完整版的性能，这篇论文为选择合适的测试工具提供了科学依据。