内建自测试结构详解：VLSI测试方法与可测性设计

内建自测试（In-Built Self-Test, IBST）是一种集成在电路设计中的自我诊断和验证机制，它广泛应用于大规模集成电路（Very Large Scale Integration, VLSI）设计中。VLSI测试方法学和可测性设计是确保高性能、复杂电子设备可靠性的关键要素。在《VLSI测试方法学和可测性设计》这本书中，作者详细探讨了这一主题，内容涵盖了以下几个核心知识点： 1. **测试框架**：IBST的结构通常包括测试图形生成电路、被测电路（如组合电路、时序电路、存储器或电路模块）、数据压缩电路、比较电路以及内测试控制电路。测试过程在时钟信号的驱动下运行，首先由测试图形施加到被测电路，然后捕获响应数据并压缩至特征符号，再通过比较电路与预设的参考特征进行比对，最终得出测试结果。 2. **测试图形与初始状态**：对于时序电路，测试前需要确定其初始状态，以便正确地模拟电路行为。测试图形的选择和设计需要考虑电路的具体结构和功能，以实现最小化的测试电路。 3. **数据压缩**：压缩电路是测试流程中的关键环节，它能有效地减少存储空间需求，便于数据分析。压缩结构的不同可能会影响到测试效率和准确性，因此理解不同的数据压缩技术和它们的关系至关重要。 4. **专用可测性设计**：这包括针对特定电路类型（如专用逻辑门、内存或系统-on-a-chip, SoC）的测试策略，旨在优化测试性能并减少外部资源的依赖。 5. **测试生成方法**：书中详细讨论了组合电路和时序电路的测试生成技术，可能涉及随机和伪随机测试原理，以及与M序列相关的测试生成方法。 6. **内建自测试原理**：IBST的核心是内建的自我检查机制，能够实时检测电路的错误和故障，提高了系统的可靠性，同时减少了外部测试设备的需求。 7. **版权声明**：该书版权受保护，未经授权不得复制或抄袭，旨在保护知识产权，确保学术交流的公正性。 《VLSI测试方法学和可测性设计》为读者提供了深入理解VLSI电路测试技术的基础，无论是在设计、制造、测试还是应用阶段，都能为专业人士提供实用的工具和理论支持。通过学习这些内容，学生和从业人员可以提升电路产品的质量，降低故障率，从而推动电子行业的进步。