在VLSI测试中,边界扫描技术如何实现电路板级别的故障检测和诊断?请详细说明边界扫描寄存器单元的工作原理及其在测试中的应用。
时间: 2024-11-30 18:27:18 浏览: 29
VLSI测试中的边界扫描技术通过引入边界扫描寄存器单元,在集成电路的每个引脚周围形成了一个寄存器链。这些寄存器单元通过串行通信的方式连接,能够传递测试指令、测试数据以及测试结果。它们的关键作用是允许测试数据和控制信号通过标准的测试接口进入到电路板上的每一个组件中,从而实现对电路板整体功能的测试和故障诊断。
参考资源链接:[VLSI测试方法学:边界扫描技术解析](https://wenku.csdn.net/doc/4m8r3aohzy?spm=1055.2569.3001.10343)
边界扫描寄存器单元工作原理如下:每个边界扫描单元包括一个扫描寄存器和一个触发器。扫描寄存器用于存储测试数据,而触发器则用于在正常工作模式和测试模式之间切换。在测试模式下,边界扫描寄存器单元能够捕获和观察引脚上的数据信号,同时控制引脚输出。这种能力对于测试电路板上的组件间互连、以及对组件本身的功能测试至关重要。
在实际应用中,通过边界扫描测试端口(TAP),可以对单个组件或整个电路板施加测试向量。测试向量通过边界扫描链发送到目标组件,并在边界扫描寄存器单元中捕获组件的响应。通过这种方式,可以检测到组件间的连接故障、组件功能故障等多种类型的故障。此外,这种技术还能在不接触电路板物理组件的情况下,进行诊断和测试,极大地提高了测试的效率和可靠性。
为了深入理解和应用边界扫描技术,我推荐您参阅《VLSI测试方法学:边界扫描技术解析》一书。该书详细解释了边界扫描的理论基础及其在电路板级测试中的应用,并提供了一系列实用的测试案例和解决方案。对于那些希望掌握边界扫描技术的细节和应用技巧,以及如何将这些技术应用于集成电路设计和测试的读者来说,这本书是极具价值的参考资源。
参考资源链接:[VLSI测试方法学:边界扫描技术解析](https://wenku.csdn.net/doc/4m8r3aohzy?spm=1055.2569.3001.10343)
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