如何利用边界扫描技术优化VLSI芯片的测试流程？具体步骤包括哪些？

VLSI芯片的测试流程优化是提高生产效率和降低故障率的关键。边界扫描技术是实现这一目标的有效手段，它通过在集成电路的边界上集成特殊的扫描寄存器，使得芯片的输入输出信号可以被控制和观测。这些扫描寄存器单元围绕芯片的每一个引脚形成一个寄存器链，通过串行接口输入测试数据和控制信号，实现对芯片内部逻辑和互连的测试。

参考资源链接：[VLSI测试方法学：边界扫描技术解析](https://wenku.csdn.net/doc/4m8r3aohzy?spm=1055.2569.3001.10343)

具体步骤包括：首先，测试设备通过JTAG（联合测试行动组）接口与芯片通信，将测试指令和数据加载到边界扫描寄存器中。然后，控制寄存器中的数据移位，将测试数据加载到芯片内部的触发器中，或者将芯片的输出信号移位至寄存器链中，以便观察。通过这种方式，测试设备可以对芯片的逻辑功能、互连以及电参数进行诊断。

此外，边界扫描技术还包括内建自测试（BIST），这种方法将测试逻辑集成到芯片内部，使得芯片可以进行自检，进一步提高了测试的便捷性和覆盖率。通过边界扫描技术，可以显著提高测试的灵活性和效率，减少对外部测试设备的依赖，从而缩短测试周期和降低成本。

对于想要更深入地了解如何运用边界扫描技术优化VLSI芯片测试流程的人来说，推荐查阅《VLSI测试方法学：边界扫描技术解析》一书。这本书深入讲解了边界扫描技术的原理和应用，通过丰富的实例和案例分析，帮助读者理解并掌握这一技术的精髓。

参考资源链接：[VLSI测试方法学：边界扫描技术解析](https://wenku.csdn.net/doc/4m8r3aohzy?spm=1055.2569.3001.10343)